[发明专利]X射线成像系统和方法有效
| 申请号： | 201510162334.3 | 申请日： | 2015-04-08 |
| 公开（公告）号： | CN106153646B | 公开（公告）日： | 2022-06-24 |
| 发明（设计）人： | 陈志强;张丽;沈乐;黄清萍;金鑫 | 申请（专利权）人： | 清华大学;同方威视技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/046 | 分类号： | G01N23/046 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 王波波 |
| 地址： | 100084*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 公开了一种X射线成像系统和方法。该系统包括：X射线源，发出X射线束；沿着X射线的发射方向依次设置的第一光栅和第二光栅；探测器，设置在X射线发射方向上第二光栅的下游；控制和数据处理装置，用于控制X射线源发出X射线，控制所述探测器接收经过第一光栅和第二光栅的X射线，产生相衬信息和/或暗场信息，并且基于所述相衬信息和/或暗场信息对被检查物体进行CT检查，获得CT图像。利用上述技术方案，能够得到被检查物体的更多的特征信息，从而允许做出更准确的物质识别及安检性能。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 成像 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种X射线成像系统，包括：X射线源，发出X射线束；沿着X射线的发射方向依次设置的第一光栅和第二光栅；探测器，设置在X射线发射方向上第二光栅的下游；控制和数据处理装置，用于控制X射线源发出X射线，控制所述探测器接收经过第一光栅和第二光栅的X射线，产生相衬信息和/或暗场信息，并且基于所述相衬信息和/或暗场信息对被检查物体进行CT检查，获得CT图像。
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