[发明专利]计测系统在审
| 申请号： | 201510162989.0 | 申请日： | 2015-04-08 |
| 公开（公告）号： | CN104972361A | 公开（公告）日： | 2015-10-14 |
| 发明（设计）人： | 冲忠洋 | 申请（专利权）人： | 大隈株式会社 |
| 主分类号： | B23Q17/00 | 分类号： | B23Q17/00 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 李辉;于靖帅 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种计测系统，其可以在短时间内无误差地准确地计测目标球的中心坐标。计测系统(S)使用初始位置计测步骤(S1)和分度计测步骤(S3)确定几何误差，其中，初始位置计测步骤(S1)确定目标球(6)的坐标和目标(6)的尺寸，分度计测步骤(S3)按照多个分度条件定位旋转轴，并根据传感器计测坐标值确定几何误差，所述传感器计测坐标值是通过接触式探针(31)的传感器(32)对目标球(6)进行计测而得到的坐标值。并且，在分度计测步骤(S3)中，通过传感器(32)对目标球(6)进行仅仅3次计测，就可以使用在初始位置计测步骤(S1)中所得到的目标球(6)的尺寸求出目标球(6)的坐标。 | ||
| 搜索关键词： | 系统 | ||
【主权项】：
一种计测系统(S)，在具备3个直线轴和2个旋转轴的多轴机床(21)中，在将传感器(32)设置于主轴或者工作台(25)的任意一方并且将目标(6)设置于另一方的状态下，使用初始位置计测步骤和分度计测步骤对多轴机床(21)的几何误差进行计测，其中，所述初始位置计测步骤确定目标(6)或者传感器(32)的坐标和目标(6)的尺寸，所述分度计测步骤按照多个分度条件定位旋转轴，并根据传感器计测坐标值确定几何误差，所述传感器计测坐标值是通过传感器(32)对目标(6)进行计测而得到的坐标值，所述计测系统(S)的特征在于，在所述分度计测步骤中，通过传感器(32)对目标(6)进行仅仅3次计测，使用在所述初始位置计测步骤中所得到的目标(6)的尺寸求出目标(6)的中心坐标。
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