[发明专利]自动测试设备及方法

摘要

本发明公开一种自动测试设备，用于测试至少第一待测物以及第二待测物，自动测试设备包括第一测试模组、第二测试模组及控制模组。第一测试模组可插拔地耦接第一待测物，第二测试模组可插拔地耦接第一待测物及第二待测物。控制模组耦接第一测试模组及第二测试模组，并依据测试排程表控制第一测试模组及第二测试模组，使得第一测试模组及第二测试模组在排程模式下对第一待测物及第二待测物进行测试，其中排程模式为循序模式、并行模式或并联模式。

主权项

一种自动测试设备，用于测试至少一第一待测物以及一第二待测物，其特征在于，该自动测试设备包括：一第一测试模组，包括一第一开关组及一第一测量单元，该第一测量单元耦接该第一开关组，该第一开关组包括至少一第一接脚，该第一接脚可插拔地耦接该第一待测物；一第二测试模组，包括一第二开关组及一第二测量单元，该第二测量单元耦接该第二开关组，该第二开关组包括至少一第二接脚及一第三接脚，该第二接脚可插拔地耦接该第一待测物，该第三接脚可插拔地耦接该第二待测物；以及一控制模组，耦接该第一测试模组及该第二测试模组，并依据一测试排程表控制该第一测试模组及该第二测试模组，使得该第一测试模组及该第二测试模组在一排程模式下对该第一待测物及该第二待测物进行测试，其中该排程模式为循序模式、并行模式或并联模式。