[发明专利]紫外激光能量的测量方法有效

专利信息
申请号: 201510166688.5 申请日: 2015-04-10
公开(公告)号: CN104792411B 公开(公告)日: 2017-03-15
发明(设计)人: 刘亚群;唐顺兴;崔子健;姜秀青;郭亚晶;朱宝强 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G01J1/42 分类号: G01J1/42
代理公司: 上海新天专利代理有限公司31213 代理人: 张泽纯,张宁展
地址: 201800 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种紫外激光能量的测量方法,利用CsITI晶体在紫外激光的照射下产生荧光效应的特性。通过标定荧光强度与入射激光强度的线性关系,对紫外激光能量进行测量。本发明测量方法的荧光量子效率稳定,激光能量密度阈值高。
搜索关键词: 紫外 激光 能量 测量方法
【主权项】:
一种紫外激光能量的测量方法,其特征在于:该方法包括下列步骤:1)紫外激光能量测量光路由激光入口、衰减片、石英透镜组、CsI:TI晶体、K9透镜、单色仪、光电倍增管、数据采集系统和计算机组成,在同心光路上依次设置激光入口、衰减片和石英透镜组,石英透镜组后放置一个使激光以小角度掠入射的CsI:TI晶体,在CsI:TI晶体的前向荧光发射区域放置一个大口径短焦距K9透镜,在K9玻璃透镜后焦点处放置单色仪,所述的光电倍增管的阴极一端紧靠所述的单色仪的输出狭缝,所述的光电倍增管阳极输出端连接数据采集系统,该数据采集系统的输出端与计算机的输入端相连,紫外激光通过激光入口进入测量光路,经过衰减片衰减后的激光经两个不同焦距石英透镜组成的石英透镜组调节光斑大小后掠入射到CsI:TI晶体上产生发射峰值为550nm的荧光,使用K9透镜收集前向荧光并汇聚到单色仪输入端,单色仪输出550nm发射峰值处的荧光,单色仪输出狭缝后的光电倍增管对该荧光强度P0进行测量,经由数据采集系统记录荧光强度P0到计算机上;2)紫外激光能量与荧光强度关系标定:紫外激光能量与荧光强度关系E=KP的标定光路由激光入口、石英透镜组、50%分束镜、标准能量计、CsI:TI晶体、K9透镜、单色仪、光电倍增管和数据采集系统组成,在石英透镜组后使用50%的分束镜将紫外激光分成两束能量相同的激光,一束激光直接入射到标准能量计,另一束入射到CsI:TI晶体产生荧光效应,记录标准能量计的紫外激光能量与对应CsI:TI晶体产生的荧光强度P,不断增大激光器能量E,绘制紫外激光能量与对应荧光强度关系曲线,确定E=KP的系数K;3)紫外激光能量计算:在紫外激光能量测量光路中光电倍增管输出的荧光强度经由数据采集系统输入计算机,利用已经标定的紫外激光能量与荧光强度关系系数K和衰减片的系数α,计算得到紫外激光的能量E0=KP0/α。
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