[发明专利]系统芯片及其验证方法有效
| 申请号： | 201510167012.8 | 申请日： | 2015-04-09 |
| 公开（公告）号： | CN104978249B | 公开（公告）日： | 2019-02-22 |
| 发明（设计）人： | 朴城范;朴镇成;曹娥罗 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 陈源;张帆 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明公开了一种系统芯片及其验证方法。所述验证方法包括步骤：接收测试产生器和异常处理程序；基于测试模板，通过测试产生器来产生测试程序，所述测试程序包括异常引发指令；在执行测试程序时，在第一操作状态下执行第一指令；当在测试程序的执行过程中执行了异常引发指令时，使测试程序的执行停止并且执行包括在异常处理程序中的固定指令序列；以及在执行固定指令序列之后设置的第二操作状态下从第二指令恢复执行测试程序，该第二指令对应于与异常引发指令的地址邻近的地址。 | ||
| 搜索关键词： | 系统 芯片 及其 验证 方法 | ||
【主权项】：
1.一种系统芯片的验证方法，包括步骤：通过包括在系统芯片中的处理器接收测试产生器和异常处理程序；基于测试模板，通过包括所述测试产生器的处理器来产生包括异常引发指令的测试程序；在执行上述测试程序时，通过处理器在第一操作状态下执行第一指令；当在所述测试程序的执行过程中执行了所述异常引发指令时，通过处理器使所述测试程序的执行停止；当在所述测试程序的执行过程中执行了所述异常引发指令时，通过处理器执行包括在所述异常处理程序中的固定指令序列；以及在执行所述固定指令序列之后设置的第二操作状态下从第二指令恢复执行所述测试程序，所述第二指令的地址位于紧挨着所述异常引发指令的地址之后,其中，所述测试产生器为一种程序、程序代码和/或软件模块。
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