[发明专利]基于区段精细测量的大断面地下洞室早期变形监测方法有效

专利信息
申请号: 201510170281.X 申请日: 2015-04-10
公开(公告)号: CN104748695B 公开(公告)日: 2017-06-30
发明(设计)人: 段云岭;吕小宁;冯金铭;魏雪斐 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01B11/16 分类号: G01B11/16
代理公司: 北京众合诚成知识产权代理有限公司11246 代理人: 张文宝
地址: 100084 北京市*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了属于岩土工程中地下洞室变形测量技术范围的一种基于区段精细测量的大断面地下洞室早期变形监测方法。首先安装包括激光测量模块,旋转机构,快装板和基座四部分的区段精细测量装置;利用区段精细测量装置对洞室断面关心的部位进行不同历时逐区段精细测量,然后针对不同历时的区段测量数据进行数据拼接并进行直接区段对比计算,得到关心部位的变形向量。本发明可以实现大断面地下洞室早期变形监测,具有小巧,使用简便,无需靶点,不受爆破影响,不需精确对中,可以紧邻掌子面快速安装,尤其适用于钻爆法开挖的地下空间早期变形监测等优点。
搜索关键词: 基于 区段 精细 测量 断面 地下 早期 变形 监测 方法
【主权项】:
一种基于区段精细测量的大断面地下洞室早期变形监测方法,其特征在于,包括如下步骤:1)首先,安装区段精细测量装置,该装置包括激光测量模块,旋转机构,快装板和基座四部分;将旋转机构通过锁紧螺丝固定到快装板上,激光测量模块通过其底部的螺钉孔固定到旋转机构的快装板上,这样就组成了可拆卸的测量装置;当洞室掌子面开挖完成后,立即在距离掌子面0.5m,距离底拱1.0m的边墙部位,将岩体表面处理平整,保证岩体表面与洞室轴线平行,使用电锤施作4个钻孔,并用膨胀螺丝将基座水平固定在边墙上;然后,将可拆卸测量装置的快装板通过卡槽固定到基座上;2)操作旋转机构,将测量模块旋转到待测试的区段部位,针对每一个待测试区段,密集采集一系列测点,针对每一个测点,采用多次测量求取平均值,计算其距离和角度信息;测量结束后,直接将测量机构从卡槽卸下即可;3)数据处理,针对每一个区段的不同历时的测量数据,首先,按不同历时的测量数据,分别进行椭圆拟合,得到各自的椭圆中心坐标,然后依据不同历时测量数据各自的中心坐标,将不同历时测量数据平移到原点,完成不同历时数据的拼接;其次,针对不同历时拼接后的测量区段数据,逐区段计算测量区段的面积S,测量区段的平均长度L,测量区段的平均变形方向向量n,然后,计算不同历时测量区段的平均变形幅值d=S/L,变形幅值d和变形方向向量n共同组成该区段的变形向量;针对拼接后的两个历时的测量数据,逐区段进行变形向量的计算;其中,两个历时的测量区段的面积S表示为:S=-12Σi=1k(|Pi,tPi+1,t×Pi,tPi,t+1|+|Pi,t+1Pi+1,t+1×Pi+1,tPi+1,t+1|)]]>其中,Pi,t,Pi+1,t为测量区段历时t下的测点,Pi,t+1,Pi+1,t+1为测量区段历时t+1下的测点,Pi,tPi+1,t,Pi,tPi,t+1,Pi,t+1Pi+1,t+1,Pi+1,tPi+1,t+1为测点之间的几何向量;两个历时的区段平均长度L表示为:L=Σi=1k(|Pi+1,tPi,t|+|Pi+1,t+1Pi,t+1|)2]]>两个历时的区段平均变形d为:d=SL]]>两个历时的区段平均斜率v表示为:v=Σi=1k(yi+1,t-yi,txi+1,t-xi,t+yi+1,t+1-yi,t+1xi+1,t+1-xi,t+1)2k]]>其中,(xi,t,yi,t),(xi+1,t,yi+1,t),(xi,t+1,yi,t+1),(xi+1,t+1,yi+1,t+1)分别为两个历时测点Pi,t,Pi+1,t,Pi,t+1,Pi+1,t+1的直角坐标系下坐标;两个历时的区段平均变形方向向量n为:n→=11+v2(v,-1)]]>两个历时的区段变形向量:至此,两个历时t和t+1之间的区段变形向量计算完毕。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于清华大学,未经清华大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510170281.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top