[发明专利]评估质谱仪中的真空条件的方法有效

专利信息
申请号: 201510171352.8 申请日: 2015-04-13
公开(公告)号: CN104979158B 公开(公告)日: 2017-12-08
发明(设计)人: K·艾子科夫;D·诺尔汀;J-P·哈奇尔德 申请(专利权)人: 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
主分类号: H01J49/38 分类号: H01J49/38;H01J49/42
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司31100 代理人: 段登新
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 提出一种用于评估质谱仪(10),例如离子回旋共振或轨道俘获质谱仪中的真空条件的方法。此种质谱仪产生源自离子阱(80)中的一种或多种种类的离子的瞬态检测信号。对该阱的参数和/或引入的离子进行调整以便使得关于该离子种类的瞬态的衰减率由碰撞效应主导。典型地这可以通过将离子以这样的量引入阱(80)中来实现,使得一种特定离子种类的离子云自聚束。确定在这种情况下的瞬态信号的衰减率并且将其与一个或多个阈值衰减率进行比较。这进而可以提供阱(80)内的真空条件的指示。
搜索关键词: 评估 质谱仪 中的 真空 条件 方法
【主权项】:
一种评估质谱仪的阱内的真空条件的方法,该质谱仪为产生瞬态检测信号的类型,该方法包括:(a)将至少一种离子种类引入该阱中;(b)产生该阱中的这些离子的瞬态检测信号,对该阱的参数和/或这些引入的离子进行调整以便使得关于这些引入的离子种类、或这些引入的离子种类中的至少一种的该瞬态检测信号的衰减率由碰撞效应主导;(c)确定关于这些离子种类或这些离子种类中的至少一种的瞬态检测信号的衰减率,其中该衰减率是由碰撞效应主导的;并且(d)将该瞬态检测信号的所确定的衰减率与一个或多个阈值衰减率进行比较,以便评估该阱内的真空条件。
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