[发明专利]面向片上大容量缓冲存储器的任意多位容错方法及装置有效

专利信息
申请号: 201510171762.2 申请日: 2015-04-13
公开(公告)号: CN104750577B 公开(公告)日: 2017-09-29
发明(设计)人: 邓让钰;周宏伟;曾坤;张英;杨乾明;冯权友;李永进;王勇;晏小波;杨俊 申请(专利权)人: 中国人民解放军国防科学技术大学
主分类号: G06F11/14 分类号: G06F11/14
代理公司: 湖南兆弘专利事务所(普通合伙)43008 代理人: 赵洪,谭武艺
地址: 410073 湖南省长沙市砚瓦池正*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开了一种面向片上大容量缓冲存储器的任意多位容错方法及装置,方法包括上电复位后输出扫描启动信号,正常工作状态下根据缓冲存储器的状态输出标签或数据阵列刷新启动信号;根据扫描启动信号和刷新启动信号隔离硬错误并进行ECC校验;替换存储单元时,选择被隔离硬错误外的存储单元进行替换;装置包括扫描与刷新控制单元、标签阵列及数据阵列错误检测单元和容错替换策略单元。本发明能避免不同类型错误的叠加和累积效应,降低缓冲存储器发生多位错的概率,降低对更复杂ECC校验编码的需求,提升缓冲存储器的空间效率,减少对正常缓冲存储器中存储体读写的影响,提升缓冲存储器访问的时间效率,实现代价低、容错效率高、可扩展性好。
搜索关键词: 面向 片上大 容量 缓冲存储器 任意 容错 方法 装置
【主权项】:
一种面向片上大容量缓冲存储器的任意多位容错方法,其特征在于步骤包括:1)在处理器上电复位后输出数据阵列扫描启动信号;在缓冲存储器完成扫描识别数据阵列中各个存储单元的硬错误后的正常工作状态下,监测缓冲存储器的标签阵列和数据阵列的状态,如果标签阵列发生ECC校验错误则输出标签阵列刷新启动信号,如果数据阵列发生ECC校验错误则输出数据阵列刷新启动信号;2)如果检测到数据阵列扫描启动信号,则进行数据扫描识别数据阵列中各个存储单元的硬错误,将数据阵列中发生硬错误的存储单元对应的错误隔离标志位标记1;如果检测到标签阵列刷新启动信号则刷新标签阵列,完成对标签阵列中每一个存储单元状态信息的ECC校验,如果检测到数据阵列刷新启动信号则刷新数据阵列,完成对数据阵列中每一个存储单元中存储数据的ECC校验;3)检测数据阵列中存储单元的写入或者替换操作,当需要进行存储单元的写入或者替换操作时,从组相连的多路存储单元中选择对应的错误隔离标志位未被标记为1的存储单元作为写入或者替换的目标存储单元来进行写入或者替换操作。
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