[发明专利]测试探针和制造测试探针的方法有效
| 申请号： | 201510172275.8 | 申请日： | 2015-04-13 |
| 公开（公告）号： | CN104977440B | 公开（公告）日： | 2020-09-29 |
| 发明（设计）人： | K.K.具 | 申请（专利权）人： | 英飞凌科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067;G01R3/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 王洪斌;胡莉莉 |
| 地址： | 德国瑙伊比*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及测试探针和制造测试探针的方法。提供了一种用于测试芯片封装的测试探针，其中测试探针包括包含传导材料的测试探针主体；以及布置在测试探针主体的末端上并且包括碳纳米管的探针端部。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 探针 制造 方法 | ||
【主权项】：
一种用于测试芯片封装的测试探针，所述测试探针包括：包含传导材料的测试探针主体；以及布置在测试探针主体的末端上并且包括碳纳米管的探针端部。
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