[发明专利]低采样率下和欠采样率下高精度计算驻波比的方法

摘要

本发明公开了一种低采样率下和欠采样率下高精度计算驻波比的方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)重构采样信号：假设采样后形成的采样信号是f_s(t)，f_s(t)经过内插处理后被恢复成原来的连续信号f(t)，重构公式：(2)高频采样：对重构出来的连续信号f(t)进行高频采样，采样的频率为：信号频率10倍以上的频率，得到高频采样信号f_s1(t)；(3)计算驻波比：针对高频采样信号f_s1(t)按照能量法计算驻波比。本发明的有益之处在于：在低采样率下和欠采样率下，通过对采样信号进行重构，重新获得了连续的信号，由于是针对重构后的连续信号计算驻波比，所以计算结果更加精确，克服了现有方法测量驻波比误差较大以及误差波动较大的缺点。

主权项

低采样率下和欠采样率下高精度计算驻波比的方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)重构采样信号：假设采样后形成的采样信号是f_s(t)，f_s(t)经过内插处理后被恢复成原来的连续信号f(t)，所述f(t)根据以下公式重构得到：$f\left(t\right)={\mathrm{\Σ}}_{n=-\∞}^{\∞}f\left(\mathrm{nTs}\right)*\mathrm{Sa}\left[\mathrm{wc}(t-\mathrm{nTs})\right]$       式(1)式中，wc是信号频率，Ts是采样频率，Sa是抽样函数，f(nTs)是采样点处函数的幅值，f(t)是重构出来的函数；(2)高频采样：对重构出来的连续信号f(t)进行高频采样，得到高频采样信号f_s1(t)；(3)计算驻波比：针对高频采样信号f_s1(t)按照能量法计算驻波比。