[发明专利]一种含钆羟基磷灰石纳米颗粒的检测方法有效
| 申请号： | 201510177019.8 | 申请日： | 2015-04-15 |
| 公开（公告）号： | CN106153506B | 公开（公告）日： | 2020-08-07 |
| 发明（设计）人： | 袁兰;黄健;袁帅军 | 申请（专利权）人： | 北京大学 |
| 主分类号： | G01N15/00 | 分类号： | G01N15/00 |
| 代理公司： | 北京汉德知识产权代理事务所(普通合伙) 11328 | 代理人： | 刘子文;徐驰 |
| 地址： | 100191 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种含钆羟基磷灰石纳米颗粒的检测方法，包括：准备待测样品，待测样品中含有含钆羟基磷灰石纳米颗粒和/或带有荧光标记的含钆羟基磷灰石纳米颗粒；用激光照射待测样品，并采集反射光；以及根据采集到的反射光形成图像或光谱曲线。本方法可对含钆羟基磷灰石纳米颗粒进行连续的、长时间的实时追踪和定位成像。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 羟基 磷灰石 纳米 颗粒 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种含钆羟基磷灰石纳米颗粒的检测方法，其特征在于，包括：准备待测样品，所述待测样品中含有含钆羟基磷灰石纳米颗粒和/或带有荧光标记的含钆羟基磷灰石纳米颗粒；用激光照射所述待测样品，并采集反射光；以及根据采集到的所述反射光形成图像、光谱曲线和/或定量数据。
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