[发明专利]天线方向图测量中的直线轨迹校正方法

摘要

本发明提供了一种天线方向图测量中的直线轨迹校正方法。该方法包括规划与被测天线中心法线方向垂直的直线轨迹，在直线轨迹上规划多个测试点，参考天线将在多个测试点上依次位移，当参考天线沿直线轨迹从第一测试点向第二测试点位移后，记录参考天线相对于被测天线的转动角度，测量位移前和位移后参考天线到被测天线的第一距离与第二距离，根据计算结果计算参考天线位移后偏离直线轨迹的偏离角度和参考天线到第一测试点的第三距离，再根据偏离角度、第三距离和第一测试点到第三测试点的第四距离计算参考天线到第三测试点的第五距离和参考天线的校正角度，最后按照第五距离和校正角度控制参考天线位移。本发明能够校正参考天线的直线位移方向。

主权项

一种天线方向图测量中的直线轨迹校正方法，其特征在于，包括：S1：将被测天线固定，在所述被测天线的中心法线方向上选取参考点，在与所述被测天线的中心法线方向垂直的方向上规划参考天线的直线轨迹，并在所述直线轨迹上规划多个测试点，以控制所述参考天线沿所述直线轨迹在多个测试点上依次位移，其中，所述直线轨迹经过所述参考点；S2：当所述参考天线沿所述直线轨迹从第一测试点向第二测试点位移后，将所述参考天线的中心法线调节至对准所述被测天线的几何中心，记录调节过程中所述参考天线的转动角度，测量位移前所述参考天线到所述被测天线的第一距离和位移后所述参考天线到所述被测天线的第二距离；S3：根据所述第一距离、所述第二距离、所述转动角度计算所述参考天线位移后偏离所述直线轨迹的偏离角度和所述参考天线到所述第一测试点的第三距离；S4：根据所述偏离角度、所述第三距离和所述第一测试点到第三测试点的第四距离计算所述参考天线到所述第三测试点的第五距离以及所述第五距离的方向与所述直线轨迹之间的校正角度，并按照所述第五距离和所述校正角度控制所述参考天线位移，以使得所述参考天线重新回到所述直线轨迹上。