[发明专利]用于操作核磁流量计的方法有效

专利信息
申请号: 201510177868.3 申请日: 2015-04-15
公开(公告)号: CN105277239B 公开(公告)日: 2020-03-13
发明(设计)人: C.J.霍根多尔恩;R.R.特罗姆普;O.J.P.布舍;M.L.佐埃特维吉;L.M.C.策里奥尼 申请(专利权)人: 克洛纳有限公司
主分类号: G01F1/56 分类号: G01F1/56
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 崔幼平;宣力伟
地址: 瑞士.*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种用于操作核磁流量计的方法,其特征在于,对于段塞区域和膜区域确定调谐参数和匹配参数,对于段塞区域设定参数,或者对于膜区域设定参数,经过时间t测量反射功率,其中为段塞区域设定的系统中的反射功率对于段塞区域来说低,而对于膜区域来说高,并且其中为膜区域设定的系统中的功率对于膜区域来说低,而对于段塞区域来说高,使用反射功率来确定段塞区域和膜区域在RF线圈中的相对停留时间以及段塞区域和膜区域在流动介质中的相对频率,并且将反射功率的值从高值向较低值的跳跃用作用于开始测量的触发事件。
搜索关键词: 用于 操作 流量计 方法
【主权项】:
 一种用于操作核磁流量计的方法,所述核磁流量计用于确定流动穿过测量管的介质的流量,特别是用于确定具有段塞流的介质的流量,具有测量装置,其中所述测量装置包含RF回路,所述RF回路具有外部电子装置,并且具有至少一个RF线圈,所述至少一个RF线圈设计成用于生成激励介质用的激励信号,和/或用于检测由介质发出的测量信号,其特征在于,对于段塞区域和膜区域确定调谐参数和匹配参数,对于段塞区域设定参数,或者对于膜区域设定参数,经过时间t测量反射功率,其中为段塞区域设定的系统中的反射功率对于段塞区域来说低,而对于膜区域来说高,并且其中为膜区域设定的系统中的功率对于膜区域来说低,而对于段塞区域来说高,使用反射功率来确定段塞区域和膜区域在RF线圈中的相对停留时间以及段塞区域和膜区域在流动介质中的相对频率,并且将反射功率的值从高值向较低值的跳跃用作用于开始测量的触发事件。
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