[发明专利]一种基于射线追踪确定表面波导盲区信息的方法有效

专利信息
申请号: 201510178625.1 申请日: 2015-04-15
公开(公告)号: CN104765029B 公开(公告)日: 2017-09-05
发明(设计)人: 张沛;白璐;吴振森;曹云华;李正军 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G01S13/06 分类号: G01S13/06
代理公司: 广东朗乾律师事务所44291 代理人: 杨焕军
地址: 710068*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 一种基于射线追踪确定表面波导盲区信息的方法,步骤如下获取修正折射率剖面数据;确定计算范围,包括最大传播距离,最大传播高度,高度步进值,发射天线高度以及发射天线初始发射仰角及射线仰角间隔,判断是否对射线进行追踪;根据Snell定律的二阶泰勒近似模式对射线进行追踪,获得每一根射线的传播轨迹;对于所有符合追踪条件的射线进行陷获与否的判定并分类,提取出射射线的离散数据;获得波导顶部盲区的起始位置参数;计算表面波导顶部盲区面积。本发明引入射线追踪法对电波射线进行判定、归类,提取及数据离散化处理,简单直观并且准确地获得盲区的起始位置、范围,使盲区计算模型的复杂程度降低,从而实现对流层表面波导盲区面积的快速计算。
搜索关键词: 一种 基于 射线 追踪 确定 表面 波导 盲区 信息 方法
【主权项】:
一种基于射线追踪确定表面波导盲区信息的方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1、获取修正折射率剖面数据;步骤2、确定计算范围,包括最大传播距离Xmax,最大传播高度Hmax,高度步进值h,发射天线高度Ht以及发射天线初始发射仰角及射线仰角间隔,判断是否对射线进行追踪,追踪的条件为:若发射天线初始发射仰角绝对值大于3°,或发射天线高度大于波导顶高,则不对其进行追踪,若发射天线初始发射仰角绝对值小于等于3°,或发射天线高度小于等于波导顶高,则进行射线追踪;步骤3、根据Snell定律的二阶泰勒近似模式对射线进行追踪,获得每一根射线的传播轨迹;步骤4、对于所有符合追踪条件的射线进行陷获与否的判定并分类,提取出射射线的离散数据;步骤4a、陷获状态的判断步骤如下:判断射线是否能够传播到达最大传播高度Hmax,如果是则将该射线归为出射射线,否则归为陷获射线,统计出射射线的数目;步骤4b、对于每一根出射射线,提取表征其位置的三维离散数据[rn,xni,yni],其中,rn表示第n条出射射线,yni表示第n条出射射线上第i个步进点的高度值,xni表示第n条出射射线上对应于yni的水平距离;步骤5、获得波导顶部盲区的起始位置参数;步骤5a、找出xni的最大值所在的射线rxmax,获取表征该射线轨迹位置的二维离散数据[xxmaxi,yxmaxi];步骤5b、获取射线rxmax上最接近波导顶高的步进点P1的坐标(XP1,YP1),以及射线rxmax上最接近最大传播高度的步进点P2的坐标(XP2,YP2),射线rxmax在P1点到P2点之间的曲线轨迹表征了表面波导顶部盲区的开始位置信息;步骤6、计算表面波导顶部盲区面积S;S=S1+S2=[12ΣYP1YP2(yi+1+yi)·(xi+1-xi)]-YP1·(XP2-XP1)+(Xmax-XP2)·(YP2-YP1);]]>式中的xi、xi+1、yi、yi+1分别表示相邻步进点的坐标值。
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