[发明专利]一种透射探测器和插值数据计算方法

摘要

本发明属于辐射成像检测设备领域，具体涉及一种透射探测器和插值数据计算方法。现有采用单一线性射线源的透射和散射联合成像系统在被检测物体快速通过时的空间分辨率较低。本发明所述的一种透射探测器和插值数据计算方法，包括至少一个探测单元，所述探测单元包括屏蔽外壳及固定在所述屏蔽外壳内的连接有探测头的集成电路板，所述探测头包括探测头线路板和布放在所述探测头线路板上的多个像点，像点由一个光电二极管和一个叠加在光电二极管上的闪烁体晶体构成，其特征是像点呈双线阵排列。采用本发明所述的透射探测器和插值数据计算方法可以有效提高透射图像在第二维的空间分辨率,允许被检物体以更高的速度移动,并降低对扫描频率的要求。

主权项

一种透射探测器，包括至少一个探测单元(7)，所述探测单元(7)包括屏蔽外壳(8)及固定在所述屏蔽外壳(8)内的连接有探测头(13)的集成电路板，所述探测头(13)包括探测头线路板(15)和布放在所述探测头线路板(15)上的多个像点(14)，所述像点(14)由一个光电二极管和一个叠加在所述光电二极管上的闪烁体晶体构成，其特征是：所述像点(14)呈双线阵排列，所述线阵包括直线排列的多个所述像点(14)，所述双线阵排列为两条所述线阵平行排列；所述屏蔽外壳(8)包括底板(9)，所述底板(9)上对称设有2条Z字形侧板(10)，2条所述Z字形侧板(10)与所述底板(9)共同构成一个顶部有缝隙的空腔，所述探测头(13)固定在空腔内部，在所述空腔的上部设有2块屏蔽板(11)；2块屏蔽板(11)之间构成准直狭缝(12)。