[发明专利]数据储存装置以及错误校正方法有效

专利信息
申请号: 201510180624.0 申请日: 2015-04-16
公开(公告)号: CN106155830B 公开(公告)日: 2019-07-23
发明(设计)人: 林毅泓;颜伟伦 申请(专利权)人: 慧荣科技股份有限公司
主分类号: G06F11/10 分类号: G06F11/10
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 徐洁晶
地址: 中国台湾新竹县*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明提供一种数据储存装置以及错误校正方法,该数据储存装置包括一快闪存储器以及一控制器。快闪存储器包括多个芯片,并且每一芯片包括一第一存储器平面以及一第二存储器平面,其中第一存储器平面以及第二存储器平面分别包括多个页面。控制器被设置为用以根据一错误校正能力表,对第一存储器平面以及第二存储器平面中所储存的数据进行错误校正,其中错误校正能力表用以记录第一存储器平面的一第一错误比特校正能力值以及第二存储器平面所相应的一第二错误比特校正能力值。
搜索关键词: 数据 储存 装置 以及 错误 校正 方法
【主权项】:
1.一种数据储存装置,包括:一快闪存储器,包括多个芯片,并且每一上述芯片包括一第一存储器平面以及一第二存储器平面,其中上述第一存储器平面以及上述第二存储器平面的大小相同,上述第一存储器平面包括具有第一数量的坏列之多个页面,且上述第二存储器平面包括具有第二数量的坏列的多个页面,且上述第一数量与上述第二数量不同;以及一控制器,被设置为用以根据一错误校正能力表,对上述第一存储器平面以及上述第二存储器平面中所储存的数据进行错误校正,其中上述错误校正能力表用以记录上述第一存储器平面的一第一错误比特校正能力值以及上述第二存储器平面所相应的一第二错误比特校正能力值,其中上述第一错误比特校正能力值系依据存储于上述第一存储器平面的第一校验码而得,且上述第二错误比特校正能力值系依据存储于上述第二存储器平面的第二校验码而得,其中上述第一校验码具有第一长度,且上述第二校验码具有第二长度,且上述第一长度不同于上述第二长度。
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