[发明专利]软件集成测试中的缺陷定位在审

专利信息
申请号: 201510184119.3 申请日: 2015-04-17
公开(公告)号: CN105279084A 公开(公告)日: 2016-01-27
发明(设计)人: J.海曼;P.迈耶;T.詹森 申请(专利权)人: SAP欧洲公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 邵亚丽;曹瑜
地址: 德国瓦*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 可以在集成测试中执行缺陷定位以更有效地确定最近的源代码改变是否引起缺陷。标识改变位置,其代表自最后的集成测试运行之后发生的代码改变(例如,源代码改变)。可以获得代码覆盖信息,其指示在集成测试期间实际测试的代码行。可以执行搜索以找到代码改变和实际测试的代码之间的交叉,以确定集成测试中可能引起缺陷的一个或多个候选代码改变。可以基于一个或多个不同的排名算法来对候选代码改变排名。
搜索关键词: 软件 集成 测试 中的 缺陷 定位
【主权项】:
一种在与系统的代码相关联的集成测试期间检测软件缺陷的方法,该方法包括:在第一时段期间,使用包括多个单独的测试的测试套件对代码执行第一集成测试,其中,至少一部分单独的测试通过第一集成测试;接收对代码的改变,以生成代码的更新的版本和标识改变的代码的部分的第一代码位置;在稍后的第二时段期间,使用测试套件对代码的更新的版本执行第二集成测试,其中,至少一些单独的测试没有通过第二集成测试;对于在第一时段期间通过但是在第二时段期间没有通过的单独的测试,接收由所述单独的测试训练的第二代码位置;以及将在第一时段之后改变的第一代码位置与在第二集成测试期间训练的第二代码位置进行匹配,以检测代码的候选缺陷。
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