[发明专利]一种变频器中的三相电流检测方法及电路

摘要

本发明公开了一种变频器中的三相电流检测方法,包括以下步骤，将检测值Iu、Iv、Iw分别耦接至变频器的主控芯片的三个输入引脚I’u、I’v、I’w；当Iu缺相时，断开Iu与I’u之间的连接，将Iv或Iw耦接至I’u，当Iv缺相时，断开Iv与I’v之间的连接，将Iu或Iw耦接至I’v，当Iw缺相时，断开Iw与I’w之间的连接，将Iu或Iv耦接至I’w；当Iu和Iv同时缺相时，断开Iu与I’u之间以及Iv与I’v之间的连接，将Iw耦接至 I’u和I’v，当Iu和Iw同时缺相时，断开Iu与I’u之间以及Iw与I’w之间的连接，将Iv耦接至 I’u和I’w，当Iv和Iw同时缺相时，断开Iv与I’v之间以及Iw与I’w之间的连接，将Iu耦接至 I’v和I’w。本发明具有在电机缺相或者变频器的三相检测电路出现问题时，依然保持电机运转的特点。

主权项

一种变频器中的三相电流检测方法,其特征是：包括以下步骤，a．利用三相电流检测电路对受控电机的三相电流进行检测，再将检测值Iu、Iv、Iw分别耦接至变频器的主控芯片的三个输入引脚I’u、I’v、I’w；b．当Iu缺相时，断开Iu与I’u之间的连接，然后将Iv或Iw耦接至I’u，当Iv缺相时，断开Iv与I’v之间的连接，然后将Iu或Iw耦接至I’v；当Iw缺相时，断开Iw与I’w之间的连接，然后将Iu或Iv耦接至I’w；当Iu和Iv同时缺相时，断开Iu与I’u之间以及Iv与I’v之间的连接，将Iw耦接至 I’u和I’v；当Iu和Iw同时缺相时，断开Iu与I’u之间以及Iw与I’w之间的连接，将Iv耦接至 I’u和I’w，当Iv和Iw同时缺相时，断开Iv与I’v之间以及Iw与I’w之间的连接，将Iu耦接至 I’v和I’w。