[发明专利]一种基于串联闭合式磁化的活塞环剩磁探伤方法及装置有效
| 申请号： | 201510185370.1 | 申请日： | 2015-04-20 |
| 公开（公告）号： | CN104764800B | 公开（公告）日： | 2017-07-28 |
| 发明（设计）人： | 胡沁宇;邓志扬;王哲;邱晨 | 申请（专利权）人： | 武汉华宇一目检测装备有限公司 |
| 主分类号： | G01N27/83 | 分类号： | G01N27/83 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)11201 | 代理人： | 张大威 |
| 地址： | 430000 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于串联闭合式磁化的活塞环剩磁探伤方法及装置。利用单个永磁体(2)的N、S极与活塞环(1)组成环型磁回路，用最大磁能量密度实现圆周方向贯穿式磁化，脱离磁体后利用多种空间敏感尺度的磁敏检测单元(4’)沿圆周方向扫查工件，拾取缺陷产生的漏磁场并转化为电信号,通过信号突变判断活塞环(1)中是否存在缺陷。本发明通过环绕活塞环(1)断面的阵列磁敏检测单元(4’)，实现不同开口间隙以及活塞环(1)非规则截面中跨尺度缺陷的探伤，缺陷检出率高。本发明解决了活塞环(1)漏磁检测中的磁噪声和探伤的端部盲区问题,易于实现活塞环(1)的自动化探伤。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 串联 闭合 磁化 活塞环 剩磁 探伤 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种基于串联闭合式磁化的活塞环剩磁探伤方法,其特征在于，步骤包括:第1步，利用永磁体(2)内插入活塞环(1)的开口间隙处实现串联闭合式磁化；第2步，活塞环(1)实现整周贯穿式磁化后，将永磁体(2)脱离活塞环(1)开口间隙，形成均匀剩磁(5)；第3步，磁敏检测单元(4')环绕活塞环(1)端面沿圆周方向扫查,拾取缺陷信号并转化为电信号(11)，信号中的突变表达缺陷的存在。
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