[发明专利]太赫兹波检测装置有效
申请号: | 201510185887.0 | 申请日: | 2015-04-17 |
公开(公告)号: | CN104792744B | 公开(公告)日: | 2017-07-11 |
发明(设计)人: | 张中卫;朱亦鸣 | 申请(专利权)人: | 上海理工大学 |
主分类号: | G01N21/59 | 分类号: | G01N21/59 |
代理公司: | 上海德昭知识产权代理有限公司31204 | 代理人: | 郁旦蓉 |
地址: | 200093 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供了一种太赫兹波聚焦装置,辅助检测微流控芯片微通道中的微量液体的成分,包括光源部,用于将普通太赫兹波引入本聚焦装置;聚焦部,包含聚焦透镜及第一金属丝;待测部,包含微流控芯片;复原部,包含用于复原太赫兹波的复原透镜及第二金属丝;以及收集部,用于收集被复原的太赫兹波,其中,第一金属丝上具有至少两个亚波长尺寸的第一环形槽,至少两个第一环形槽之间的间距沿太赫兹波的传播方向递减,第二金属丝具有与第一环形槽的数量相对应的亚波长尺寸的第二环形槽,至少两个第二环形槽之间的间距沿太赫兹波的传播方向递增。本发明的太赫兹波聚焦装置实现对微流控芯片上的指定单个微通道中微量液体进行辅助检测。 | ||
搜索关键词: | 赫兹 检测 装置 | ||
【主权项】:
一种太赫兹波检测装置,利用普通的太赫兹波来辅助检测微通道中的微量液体,其特征在于,包括:光源部,用于产生所述太赫兹波;聚焦部,设在所述太赫兹波的光路上,包含:用于对所述太赫兹波进行聚焦的聚焦透镜、及穿过所述聚焦透镜的中心的第一金属丝;待测部,包含:设有至少一个被聚焦后的所述太赫兹波穿过的所述微通道的微流控芯片;复原部,用于对穿过所述微流控芯片后的所述太赫兹波进行复原,包含:中心与所述聚焦透镜的中心相对应用于复原所述太赫兹波的复原透镜、及穿过所述复原透镜的中心的第二金属丝;以及检测部,用于检测被复原的所述太赫兹波,其中,所述第一金属丝上具有多个亚波长尺度结构的第一环形槽,多个所述第一环形槽之间的间距沿所述太赫兹波的传播方向递减,所述第二金属丝具有与所述第一环形槽的数量相对应的亚波长尺度结构的第二环形槽,多个所述第二环形槽之间的间距沿所述太赫兹波的传播方向递增,所述太赫兹波经过所述聚焦透镜和所述第一金属丝聚焦后,穿过所述微流控芯片,然后所述太赫兹波被所述第二金属丝和所述复原透镜复原,所述检测部对复原后的所述太赫兹波进行检测。
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