[发明专利]用于硅片的无去边LTO背封层结构及其制造方法在审
申请号: | 201510185931.8 | 申请日: | 2015-04-17 |
公开(公告)号: | CN106158769A | 公开(公告)日: | 2016-11-23 |
发明(设计)人: | 千津井勝己;贺贤汉;洪漪 | 申请(专利权)人: | 上海申和热磁电子有限公司 |
主分类号: | H01L23/29 | 分类号: | H01L23/29;H01L23/31;H01L21/02 |
代理公司: | 上海顺华专利代理有限责任公司 31203 | 代理人: | 陈淑章 |
地址: | 200444 上海市宝*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明硅片用于硅片的无去边LTO背封层结构,包括:二氧化硅背封层,所述二氧化硅背封层覆盖在硅片的背面、背面斜边区及边缘区。本发明用于硅片的无去边LTO背封层结构。硅片的正面斜边仅剩下作为本体材料的单晶硅,且具有一个较高质量的平滑表面,与抛光面几乎没有差异。这样在外延时硅片的正面斜边上就没有了颗粒污染源,边缘层错、角锥问题也得以解决,进而提升制程良率。 | ||
搜索关键词: | 用于 硅片 无去边 lto 背封层 结构 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
硅片用于硅片的无去边LTO背封层结构,其特征在于,包括:二氧化硅背封层,所述二氧化硅背封层覆盖在硅片的背面、背面斜边区及边缘区。
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