[发明专利]水底原位X荧光光谱分析不平度效应弱化装置在审

专利信息
申请号: 201510186280.4 申请日: 2015-04-20
公开(公告)号: CN104833688A 公开(公告)日: 2015-08-12
发明(设计)人: 叶森钢;卢新祥;于梅;金宝根 申请(专利权)人: 绍兴文理学院
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223
代理公司: 绍兴市越兴专利事务所 33220 代理人: 张媛
地址: 312000 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开一种水底原位X荧光光谱分析不平度效应弱化装置,包括X荧光探头、倾角传感器和摄像头,其中,上述倾角传感器和摄像头安装于X荧光探头的同一平面上,既保证倾角传感器所测得的倾角能正确反映测量面的倾斜状况,又尽可能地使待测物元素所激发出来的特征X射线能被X荧光探头所检测到。本发明所述的水底原位X荧光光谱分析不平度效应弱化装置采用可拆卸的组合式安装,在陆上原位X荧光光谱分析时可以只用X荧光探头,适应性较好,同时在该装置的子系统出现故障时,替换和维护也非常方便;而且整体结构简单,功耗较低,所需的电池体积小、重量轻;此外,还具有反应快、抗干扰强、漏检少、功能强、寿命长等特点。
搜索关键词: 水底 原位 荧光 光谱分析 平度 效应 弱化 装置
【主权项】:
水底原位X荧光光谱分析不平度效应弱化装置,其特征在于:包括X荧光探头、倾角传感器和摄像头,其中,上述倾角传感器和摄像头安装于X荧光探头的同一平面上,既保证倾角传感器所测得的倾角能正确反映测量面的倾斜状况,又尽可能地使待测物元素所激发出来的特征X射线能被X荧光探头所检测到。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于绍兴文理学院,未经绍兴文理学院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510186280.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top