[发明专利]基于谐振频率测试的特殊环境物理参数提取装置及方法有效

专利信息
申请号: 201510188424.X 申请日: 2015-04-18
公开(公告)号: CN104749569B 公开(公告)日: 2017-02-08
发明(设计)人: 张文强;宁曰民;年夫顺;刘金现;姜万顺 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
主分类号: G01S13/02 分类号: G01S13/02
代理公司: 济南圣达知识产权代理有限公司37221 代理人: 张勇
地址: 266555 山东省*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明公开了基于谐振频率测试的特殊环境物理参数提取装置及方法,包括处在特殊环境下的发射单元和处在普通环境下的接收单元;所述发射单元和接收单元之间通过发射天线和接收天线通信;处在特殊环境下的发射单元内部设有无源的微波谐振结构;接收单元处于常温常压,远离了特殊环境。本发明的有益效果在被测环境下设置对物理参数敏感的无源微波谐振结构,谐振结构在不同的物理参数指标下,其谐振频率会有相应的漂移,通过检测微波谐振结构的频漂,利用谐振频率与物理参数的关系,即可以实现特殊环境下的物理参数测试。
搜索关键词: 基于 谐振 频率 测试 特殊 环境 物理 参数 提取 装置 方法
【主权项】:
基于谐振频率测试的特殊环境物理参数提取装置,其特征是,包括:处在特殊环境下的发射单元和处在普通环境下的接收单元;所述发射单元和接收单元之间通过发射天线和接收天线通信;处在特殊环境下的发射单元内部设有无源的微波谐振结构;接收单元处于常温常压,远离了特殊环境;发射单元内部的微波谐振结构通过发射天线发射信号,接收单元的接收天线接收信号,接收单元对接收信号进行处理后得到谐振频率回波信号;微波谐振结构在不同的被测物理参数指标下,其谐振频率回波信号的频率会有相应的改变,同被测物理参数呈单值一一对应关系,通过检测谐振频率回波信号的频率,根据谐振频率与被测物理参数的对应关系,完成特殊环境下的物理参数的提取;所述微波谐振结构与发射天线连接;所述接收单元设有射频源,所述射频源发射的信号,通过电桥分为两路,其中一路信号与本振源的信号经由参考混频器进行混频,混频后的参考中频信号IFR作为参考信号;另外一路信号发射到接收天线,利用接收天线提取发射天线的发射信号,接收到的发射信号通过耦合器进入接收混频器,利用接收混频器与本振源进行混频得到本振中频信号IFA;本振中频信号IFA与参考中频信号IFR同时进入中频放大调理单元进行调理比较,调理比较后的信号通过A/D转换器进行转换,转换后的信号进入信号转换与处理平台处理,处理后得到特殊环境下的微波谐振结构谐振频率的回波信号。
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