[发明专利]测量方法、装置及设备有效
| 申请号： | 201510191746.X | 申请日： | 2015-04-21 |
| 公开（公告）号： | CN106152923B | 公开（公告）日： | 2020-01-07 |
| 发明（设计）人： | 程攀刚 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B7/02 | 分类号： | G01B7/02;G01B7/32;G01B7/00 |
| 代理公司： | 11240 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 江舟;李灵洁 |
| 地址： | 518057 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种测量方法、装置及设备，其中，该方法采集触摸屏与实物的待测截面的接触信息，根据该接触信息对应的解析点投影生成接触屏解析图，其中，该触摸屏由该解析点组成，根据预设的测量要求分析该接触屏解析图，得到相应的测量结果，解决了用户测量工作效率不高的问题，提高了用户的测量效率。 | ||
| 搜索关键词： | 测量方法 装置 设备 | ||
【主权项】：
1.一种测量方法，其特征在于，包括：/n采集触摸屏与实物的待测截面的接触信息；/n根据所述接触信息对应的解析点投影生成接触屏解析图，其中，所述触摸屏由所述解析点组成；/n根据预设的测量要求分析所述接触屏解析图，得到相应的测量结果，其中，所述测量要求包括：长度测量，面积测量，体积测量，在所述面积测量的模式下，通过所述接触信息判断所述待测截面的平整度；在所述待测截面的平整度达到预设的阈值的情况下，将所有所述对应的解析点生成接触屏解析图，根据所述接触屏解析图计算面积；在所述待测截面的平整度低于所述预设的阈值的情况下，通过模糊算法，筛选出所述模糊算法需要的解析点生成接触屏解析图，根据所述接触屏解析图计算面积。/n
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