[发明专利]具有TaAlCN层的金属栅极堆叠件有效
申请号: | 201510193414.5 | 申请日: | 2015-04-22 |
公开(公告)号: | CN106158932B | 公开(公告)日: | 2019-06-14 |
发明(设计)人: | 张简旭珂;王廷君;郑志成;刘继文 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/423 | 分类号: | H01L29/423;H01L29/49 |
代理公司: | 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 | 代理人: | 章社杲;李伟 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种集成电路器件包括:半导体衬底;以及设置在半导体衬底上方的栅极堆叠件。栅极堆叠件还包括设置在半导体衬底上方的栅极介电层;设置在栅极介电层上方的多功能阻挡/润湿层,其中,多功能阻挡/润湿层包括碳氮化铝钽(TaAlCN);设置在多功能阻挡/润湿层上方的功函层;和设置在功函层上方的导电层。本发明涉及具有TaAlCN层的金属栅极堆叠件。 | ||
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【主权项】:
1.一种集成电路器件,包括:半导体衬底;以及栅极堆叠件,设置在所述半导体衬底上方,其中,所述栅极堆叠件包括:栅极介电层,设置在所述半导体衬底上方;多功能阻挡/润湿层,设置在所述栅极介电层上方,其中,所述多功能阻挡/润湿层包括碳氮化铝钽TaAlCN,所述多功能阻挡/润湿层包括具有不同的氮原子浓度的多个TaAlCN层,所述多功能阻挡/润湿层包括底部TaAlCN层和顶部TaAlCN层,其中,所述底部TaAlCN层比所述顶部TaAlCN层具有更高的氮原子浓度;功函层,设置在所述多功能阻挡/润湿层上方;和导电层,设置在所述功函层上方。
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