[发明专利]一种改善漏电流的发光二极管制备方法有效

专利信息
申请号: 201510196122.7 申请日: 2015-04-23
公开(公告)号: CN104894532B 公开(公告)日: 2018-07-10
发明(设计)人: 林继宏;卓昌正;林兓兓;张家宏 申请(专利权)人: 安徽三安光电有限公司
主分类号: C23C16/44 分类号: C23C16/44;H01L33/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 241000 安徽*** 国省代码: 安徽;34
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提出了一种发光二极管的制备方法,在N型层与浅量子阱层沉积步骤之间插入一杂质去除步骤,利用陡变方式增加杂质管路的载气流量,充分快速吹扫该管路的残留杂质,避免残留杂质进入浅量子阱层影响该层的晶体结构,降低对发光二极管的反向漏电流的影响,改善LED结构的可靠性和生产的良品率。
搜索关键词: 发光二极管 量子阱层 制备 残留 反向漏电流 晶体结构 杂质去除 载气流量 良品率 漏电流 吹扫 沉积 生产
【主权项】:
1.一种改善漏电流的发光二极管制备方法,其包括:提供一衬底;通入金属源,沉积缓冲层于所述衬底之上;通入金属源和杂质源,沉积N型层于所述缓冲层之上;通入金属源和杂质源或金属源,沉积浅量子阱层于所述N型层之上;继续通入金属源和杂质源或金属源,沉积量子阱层于所述浅量子阱层之上;最后通入金属源、P型杂质源,沉积P型层于所述量子阱层之上,形成发光二极管结构;其特征在于:所述浅量子阱层沉积之前还包含一杂质去除步骤,所述杂质去除步骤具体为:停止通入金属源及杂质,通入氮气和氨源,在第一时间段内通过陡变方式调节杂质管路载气流量为浅量子阱层正常生长时杂质设定流量的10~25倍,利用高于正常生长时杂质设定流量的载气吹扫杂质管路,去除N型层生长步骤中残留的杂质,避免造成残留的杂质进入浅量子阱层;然后再在第二时间段内调节杂质管路载气流量到浅量子阱层正常生长时设定流量,直至呈稳定状态,随后打开金属源,继续沉积浅量子阱层。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于安徽三安光电有限公司,未经安徽三安光电有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510196122.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top