[发明专利]折射率荧光显微镜在审
申请号: | 201510197674.X | 申请日: | 2015-04-24 |
公开(公告)号: | CN104749758A | 公开(公告)日: | 2015-07-01 |
发明(设计)人: | 叶青;孙腾骞;王槿;邓志超;张春平;田建国 | 申请(专利权)人: | 南开大学 |
主分类号: | G02B21/00 | 分类号: | G02B21/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 300071*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 一种具备折射率测量功能的荧光显微镜,包括激光器1、偏振片2、长工作距离物镜3、梯形棱镜4、样品5、荧光探测装置6、探测器7,其中,棱镜为梯形柱体,棱镜的梯形面竖直放置且梯形面较长的底位于上方,样品位于棱镜上方的矩形面上;棱镜的一个矩形侧面和激发光光轴相垂直;棱镜和偏振片之间有长工作距离物镜,激光器、偏振片、长工作距离物镜处于同一直线上;棱镜的另一个矩形斜面和探测器表面平行,本发明可以在检测待测物荧光信息的同时,测量当前观测区域在激发波长下的折射率,同时,结构简易,操作简单,适于推广使用或直接利用实验室现有条件进行改装。 | ||
搜索关键词: | 折射率 荧光显微镜 | ||
【主权项】:
一种具备折射率测量功能的折射率荧光显微镜,包括激光器、偏振片、长工作距离物镜、梯形棱镜、样品、荧光探测装置、探测器,激光器斜向上指向棱镜和样品、偏振片位于激光发射器和棱镜之间,且激光器、偏振片、棱镜、样品位于同一直线上,荧光探测装置位于棱镜和样品正上方,荧光探测装置包括显微系统和成像系统,其特征在于:棱镜为梯形柱体,棱镜的梯形面竖直放置且梯形面较长的底位于上方,样品位于棱镜上方的矩形面上;棱镜的一个矩形侧面和激发光光轴相垂直;棱镜和偏振片之间有长工作距离物镜,激光器、偏振片、长工作距离物镜处于同一直线上;棱镜的另一个矩形斜面和探测器表面平行。
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