[发明专利]面向辐对称电缆切面绝缘层厚度的并行图像测量方法有效

专利信息
申请号: 201510197679.2 申请日: 2015-04-24
公开(公告)号: CN105115428B 公开(公告)日: 2018-02-02
发明(设计)人: 刘翔;石蕴玉;夏永祥 申请(专利权)人: 上海工程技术大学
主分类号: G01B11/06 分类号: G01B11/06;G06T7/00
代理公司: 上海科盛知识产权代理有限公司31225 代理人: 应小波
地址: 201620 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种面向辐对称电缆切面绝缘层厚度的并行图像测量方法,该方法基于机器视觉和图像分析进行非接触式高精度测量,同时采用GPU多核并行平台进行高速测量,从辐对称电缆切面图像中提取有用的信息,进行绝缘层厚度测量。与现有技术相比,本发明具有降低精确测量的时间消耗,填补国内电缆行业辐对称电缆切面绝缘层厚度的高精度并行图像测量的空白,打破国外相关设备厂商的垄断和技术封锁,提高我国产品质量在线检测的技术水平,加快本土生产厂商生产自动化进程等优点。
搜索关键词: 面向 对称 电缆 切面 绝缘 厚度 并行 图像 测量方法
【主权项】:
一种面向辐对称电缆切面绝缘层厚度的并行图像测量方法,其特征在于,该方法基于机器视觉和图像分析进行非接触式高精度测量,同时采用GPU多核并行平台进行高速测量,从辐对称电缆切面图像中提取有用的信息,进行绝缘层厚度测量;该方法具体包括以下步骤:1)读取经过工业CCD相机拍摄并校正后的图像;2)从图像中提取辐对称电缆切面内外轮廓,计算电缆切面质心;3)对内轮廓像素点进行亚像素精确定位,连接质心与内轮廓像素点并延长至外轮廓;4)对外轮廓进行分段曲线拟合,并求得外轮廓与延长线的交点;5)计算交点与内轮廓像素点之间的距离即为当前内轮廓像素点对应的绝缘层厚度;6)采用统计学方法得到该辐对称电缆切面绝缘层的最大厚度、最小厚度及平均厚度。
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