[发明专利]光学电压测量装置

摘要

本发明提供一种能进行高精度的光学电压测量且具有高可靠性的光学电压测量装置。光学电压测量装置(10)至少具备：光源(11)；光分路器(12)；偏振器(13)；相位调制器(14)；传输光纤(2)；法拉第旋转器(32)，使光纤的出射光的偏振波进行旋转；电光元件(31)，对旋转后的光给予由泡克尔斯效应产生的折射率变化；反射镜(33)；以及检测器(41)。在电光元件的灵敏度的温度系数为正的情况下，在使用温度范围内的最低温度下决定法拉第旋转器的对电光元件的入射偏振光方位，以使该入射偏振光方位与泡克尔斯效应表现出的双折射的轴成为同一轴。在电光元件的灵敏度的温度系数为负的情况下，在使用温度范围内的最高温度下，进行同样的操作。

主权项

1.一种光学电压测量装置，其特征在于，至少具备：光源；第一光学元件，用于使来自所述光源的光成为线偏振光；相位调制器，对成为所述线偏振光的光施加相位调制；光纤，配置成使成为所述线偏振光的光在该光纤的滞相轴和进相轴双方进行传播；第二光学元件，使所述光纤的出射光的偏振波进行旋转；电光元件，对旋转后的所述光给予由泡克尔斯效应产生的折射率变化；反射镜，将透射了所述电光元件的光反射；光分路器，将在所述反射镜上反射并透射了所述电光元件的光进行分路；以及检测器，对由所述光分路器分路后的光进行检测，在所述电光元件的灵敏度的温度系数为正的情况下，在使用温度范围内的最低温度下，决定所述第二光学元件的对所述电光元件的入射偏振光方位，使得该入射偏振光方位与所述泡克尔斯效应表现出的双折射的轴成为同一轴，在所述电光元件的灵敏度的温度系数为负的情况下，在使用温度范围内的最高温度下，决定所述第二光学元件的对所述电光元件的入射偏振光方位，使得该入射偏振光方位与由所述泡克尔斯效应表现出的双折射的轴成为同一轴，第二光学元件是法拉第旋转器。