[发明专利]一种超结功率器件和制造方法有效

专利信息
申请号: 201510202551.0 申请日: 2015-04-24
公开(公告)号: CN106158964B 公开(公告)日: 2019-08-30
发明(设计)人: 李理;马万里;赵圣哲 申请(专利权)人: 北大方正集团有限公司;深圳方正微电子有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/06;H01L21/336
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 李相雨
地址: 100871 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种超结功率器件及其制造方法,所述超结功率器件包括有源区、分压区域、截止环区域和划片道区域,所述分压区域设置于所述有源区的外围,所述截止环区域设置于所述有源区的外围,所述划片道区域设置于所述截止环区域的外围,所述分压区域包括多个P柱,并且所述分压区域内靠近所述有源区的一侧的P柱密度大于靠近所述截止环区域一侧的P柱密度。该超结功率器件终端在分压区域采用间距不同的P柱,使超结功率器件表面电场强度减小,提高击穿电压,并且消除氧化层表面积累的电场对分压区域的影响,减少分压区域面积,提高器件性能,降低器件制造成本。
搜索关键词: 一种 功率 器件 制造 方法
【主权项】:
1.一种超结功率器件,包括有源区、分压区域、截止环区域和划片道区域,所述分压区域设置于所述有源区的外围,所述截止环区域设置于所述有源区的外围,所述划片道区域设置于所述截止环区域的外围,其特征在于,所述分压区域包括多个P柱,并且所述分压区域内靠近所述有源区的一侧的P柱的密度大于靠近所述截止环区域一侧的P柱的密度;其中,每一个所述P柱的离子浓度相同,且宽度也相同。
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