[发明专利]一种红外双波段共孔径折反射成像系统有效

专利信息
申请号: 201510204445.6 申请日: 2015-04-27
公开(公告)号: CN104793324B 公开(公告)日: 2017-06-13
发明(设计)人: 白瑜;廖志远;任栖峰;廖胜;陈为;谭述亮;林妩媚;邢廷文 申请(专利权)人: 中国科学院光电技术研究所
主分类号: G02B17/08 分类号: G02B17/08
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610209 *** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种红外双波段共孔径折反射成像系统,用于将无穷远处中波光谱波段和长波光谱波段的目标辐射成像在长波红外探测器和中波红外探测器上,主光路为长波红外光路,折转光路为中波红外光路,主光路从光束入射方向依次排布包括主镜,次镜,准直镜1,准直镜2,分光镜,长波校正镜1,滤光片,长波校正镜2,长波校正镜3,长波校正镜4,长波校正镜5,长波探测器组件,折转光路从光束入射方向依次排布包括主镜,次镜,准直镜1,准直镜2,分光镜,中波校正镜1,中波校正镜2,中波校正镜3,中波转折反射镜,中波校正镜4,中波校正镜5,中波探测器组件。本发明具有结构相对紧凑、重量轻、成像质量好、可在较宽温度内工作等优点。
搜索关键词: 一种 红外 波段 孔径 反射 成像 系统
【主权项】:
一种红外双波段共孔径折反射成像系统,其特征在于,主光路为长波红外光路,折转光路为中波红外光路;主光路从光束入射方向依次排布包括主镜(1),次镜(2),准直镜1(3),准直镜2(4),分光镜(5),长波校正镜1(6),滤光片(7),长波校正镜2(8),长波校正镜3(9),长波校正镜4(10),长波校正镜5(11)和长波探测器组件(12);折转光路从光束入射方向依次排布包括主镜(1),次镜(2),准直镜1(3),准直镜2(4),分光镜(5),中波校正镜1(13),中波校正镜2(14),中波校正镜3(15),中波转折反射镜(16),中波校正镜4(17),中波校正镜5(18)和中波探测器组件(19);主镜(1),次镜(2),准直镜1(3),准直镜2(4)为共用光学元件,主镜(1)面型为抛物面,其焦距和系统总焦距的比值在0.4~0.5之间;次镜(2)面型为高次非球面,其焦距和系统总焦距的比值在0.1~0.2之间;准直镜1(3)中至少包含一个非球面,其焦距和系统总焦距的比值在‑0.2~‑0.1之间;准直镜2(4)中至少包含一个非球面,其焦距和系统总焦距的比值在‑5.5~‑5.0之间;长波校正镜1(6)至少包含一个非球面,其焦距和系统总焦距的比值在0.12~0.18之间;滤光片(7)为硒化锌制造而成的平行平板;长波校正镜2(8)至少包含一个非球面,其焦距和系统总焦距的比值在‑0.86~‑0.82之间;长波校正镜3(9)至少包含一个非球面,其焦距和系统总焦距的比值在‑0.13~‑0.08之间;长波校正镜4(10)至少包含一个非球面,其焦距和系统总焦距的比值在‑4.3~‑3.2之间;长波校正镜5(11)至少包含一个非球面,其焦距和系统总焦距的比值在‑0.16~‑0.10之间;中波校正镜1(13)至少包含一个非球面,其焦距和系统总焦距的比值在‑0.07~‑0.01之间;中波校正镜2(14)为球面镜,其焦距和系统总焦距的比值在0.02~0.09之间;中波校正镜3(15)至少包含一个非球面,其焦距和系统总焦距的比值在0.18~0.54之间;中波校正镜4(17)为球面镜,其焦距和系统总焦距的比值在‑0.16~‑0.05之间;中波校正镜5(18)至少包含一个非球面,其焦距和系统总焦距的比值在0.13~0.25之间;红外双波段共孔径折反射成像系统的遮拦比为0.27;该红外双波段共孔径折反射成像系统工作波段为中波红外3.5‑5.0μm和长波红外7.5‑12μm;该红外双波段共孔径折反射成像系统的工作温度范围为10℃‑40℃。
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