[发明专利]一种测量熔融状态下绝缘层的红外吸收率与透射率的装置及方法有效
| 申请号： | 201510205013.7 | 申请日： | 2015-04-27 |
| 公开（公告）号： | CN104764710B | 公开（公告）日： | 2017-05-17 |
| 发明（设计）人： | 陈俊岐;赵洪;孙崐 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨理工大学 |
| 主分类号： | G01N21/3577 | 分类号： | G01N21/3577;G01N21/59 |
| 代理公司： | 哈尔滨市松花江专利商标事务所23109 | 代理人： | 王大为 |
| 地址： | 150080 黑龙*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | 一种测量熔融状态下绝缘层的红外吸收率与透射率的装置及方法，它涉及一种测量红外吸收率与透射率的装置及方法，具体涉及一种测量熔融状态下绝缘层的红外吸收率与透射率的装置及方法。本发明为了解决前没有一种装置能够测量熔融状态下绝缘层的红外吸收率与透射率的问题。本发明包括控制系统、无极灯辐照系统、试样台、遮挡机构和两个电磁阀，所述无极灯辐照系统、所述遮挡机构、试样台由上至下依次设置，试样放置在试样台上，所述遮挡机构与两个电磁阀连接，两个电磁阀均与控制系统连接。本发明属于高压电缆紫外光交联辐照生产领域。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 熔融 状态 绝缘 红外 吸收率 透射率 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种测量熔融状态下绝缘层的红外吸收率与透射率的装置，其特征在于：所述一种测量熔融状态下绝缘层的红外吸收率与透射率的装置包括控制系统、无极灯辐照系统、试样台(1)、遮挡机构和两个电磁阀(2)，所述无极灯辐照系统、所述遮挡机构、试样台(1)由上至下依次设置，试样放置在试样台(1)上，所述遮挡机构与两个电磁阀(2)连接，两个电磁阀(2)均与控制系统连接，控制系统包括第一铂金片温度传感器(12)、第二铂金片温度传感器(13)，第一铂金片温度传感器(12)和第二铂金片温度传感器(13)分别对绝缘层(10)的温度与内屏蔽层(11)的温度进行测量。
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