[发明专利]一种金属合金结合面缺陷检测方法在审
| 申请号： | 201510207925.8 | 申请日： | 2015-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN104777224A | 公开（公告）日： | 2015-07-15 |
| 发明（设计）人： | 洪晓斌;冯进亨 | 申请（专利权）人： | 华南理工大学 |
| 主分类号： | G01N29/04 | 分类号： | G01N29/04 |
| 代理公司： | 北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340 | 代理人： | 陈新胜 |
| 地址： | 510640 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种金属合金结合面缺陷检测方法，包括：采用混频信号对金属合金结合面处缺陷双通道激励－单通道接收探测；通过高通滤波器去除混频信号中低频分量及通过带通滤波器获取混频信号中高频分量，并通过所述低频分量与高频分量获得非线性旁瓣分量；通过高频分量将所述非线性旁瓣分量实现同步解调，并过滤高频部分，保留结合面处缺陷所产生的非线性基带分量；对非线性基带分量进行小波分析，获取非线性基带分量小波能量值，并根据小波能量值的大小判别金属合金结合面处是否存在缺陷；通过非线性声波同侧激励混频定位法，并依据不同延时时刻非线性旁瓣分量小波能量值实现缺陷位置定位。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 金属 合金 结合 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种金属合金结合面缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：A采用混频信号对金属合金结合面处缺陷双通道激励－单通道接收探测；B通过高通滤波器去除混频信号中低频分量及通过带通滤波器获取混频信号中高频分量，并通过所述低频分量与高频分量获得非线性旁瓣分量；C通过高频分量将所述非线性旁瓣分量实现同步解调，并过滤高频部分，保留结合面处缺陷所产生的非线性基带分量；D对非线性基带分量进行小波分析，获取非线性基带分量小波能量值，并根据小波能量值的大小判别金属合金结合面处是否存在缺陷；E通过非线性声波同侧激励混频定位法，并依据不同延时时刻非线性旁瓣分量小波能量值实现缺陷位置定位。
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