[发明专利]一种高深宽比微细电火花阵列电极的制备方法有效

专利信息
申请号: 201510209963.7 申请日: 2015-04-28
公开(公告)号: CN104909335A 公开(公告)日: 2015-09-16
发明(设计)人: 陈兢;陈献 申请(专利权)人: 苏州含光微纳科技有限公司
主分类号: B81C1/00 分类号: B81C1/00
代理公司: 北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙) 11200 代理人: 余长江
地址: 215125 江苏省苏州市工业*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及一种高深宽比微细电火花阵列电极的制备方法,其步骤包括:在钨基片的背面制作保护层、粘附层和电铸的种子层;在钨基片正面制作硬掩膜;在硬掩膜上涂覆光刻胶并曝光显影,然后刻蚀硬掩膜实现掩膜图形化的转移,并在表面涂覆光刻胶保护层;在钨基片背面利用种子层进行电铸,形成微细电极支撑结构,优选采用UV-LIGA工艺制备该支撑结构;去除钨基片正面的光刻胶保护层,采用等离子深刻蚀方法制备钨微细电极;去除钨基片正面的硬掩膜和钨基片背面多余的保护层、粘附层和种子层,得到由钨微细电极和微细电极支撑结构组成的高深宽比微细电极。本发明能够增加微细电极的实际深度,进而充分利用钨电极,提高微细电火花加工的深宽比。
搜索关键词: 一种 高深 微细 电火花 阵列 电极 制备 方法
【主权项】:
一种高深宽比微细电火花阵列电极的制备方法,其步骤包括:1)在钨基片的背面依次制作保护层、粘附层和电铸的种子层;2)在钨基片正面制作钨刻蚀的硬掩膜;3)在硬掩膜上涂覆光刻胶并曝光显影,完成光刻胶的图形化;4)刻蚀硬掩膜以实现掩膜图形化的转移,并在表面涂覆光刻胶作为保护层;5)在钨基片背面利用所述种子层进行电铸,形成微细电极支撑结构;6)去除钨基片正面的光刻胶保护层,采用等离子深刻蚀方法制备钨微细电极;7)去除钨基片正面的硬掩膜和钨基片背面多余的保护层、粘附层和种子层,得到由钨微细电极和微细电极支撑结构组成的高深宽比微细电极。
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