[发明专利]一种伽玛探测器无源效率刻度方法有效
申请号: | 201510212826.9 | 申请日: | 2015-04-30 |
公开(公告)号: | CN106199676B | 公开(公告)日: | 2019-06-21 |
发明(设计)人: | 肖刚 | 申请(专利权)人: | 北京中智核安科技有限公司 |
主分类号: | G01T1/202 | 分类号: | G01T1/202 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 102206 北京市昌平*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种伽玛探测器无源效率刻度新方法,包括以下步骤,以给定的探测器结构参数范围(包括晶体死层等几何尺寸)作为初始值的取值范围,利用蒙特卡罗(Monte_Carlo)计算并与实验测量结果比较得到该探测器的真实结构参数;根据真实结构参数利用Monte_Carlo或离散纵坐标(SN)方法计算探测器表面上的点源从任意角度发射出的特定能量的射线在探测器中的全能峰探测效率,以此表征该探测器;利用该探测器表征结果,通过数值积分方法计算任意伽玛放射源(体源、面源和点源)的多个能量点的全能峰探测效率,根据多个能量点的探测效率拟合探测效率刻度曲线。本发明提供一种伽玛探测器无源效率刻度新方法,该方法具有测量工作量小、计算精度高、体源的位置不受限制等优点。 | ||
搜索关键词: | 一种 探测器 无源 效率 刻度 新方法 | ||
【主权项】:
1.一种伽玛探测器无源效率刻度方法,其特征在于:包括以下步骤:a、以给定的探测器结构参数范围,参数包括晶体死层几何尺寸,作为初始值的取值范围,利用蒙特卡罗计算并与实验测量结果比较得到该探测器的真实结构参数;b、根据真实结构参数利用蒙特卡罗或离散纵坐标方法计算探测器表面上的点源从任意角度发射出的特定能量的射线在探测器中的全能峰探测效率,以此表征该探测器;c、利用该探测器表征结果,通过数值积分方法计算任意伽玛放射源,包括体源、面源和点源的多个能量点的全能峰探测效率,根据多个能量点的探测效率拟合探测效率刻度曲线;根据步骤a,包括以下步骤:A、选择一系列不同能量和已知活度的放射源,在不同位置测量其探测效率;B、然后在探测器的参数范围内取不同的探测器结构参数组,用蒙特卡罗方法计算这些点源的探测效率;C、把计算结果与实验结果比较,两者相差满足误差要求者,计算所采用的参数组即为探测器的真实参数。
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