[发明专利]光谱测试装置及其测试方法有效
| 申请号： | 201510213333.7 | 申请日： | 2015-04-29 |
| 公开（公告）号： | CN106197665B | 公开（公告）日： | 2018-11-09 |
| 发明（设计）人： | 张敏;张志强;田飞飞;刘磊;郑树楠;周桃飞;徐科 | 申请（专利权）人： | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28 |
| 代理公司： | 深圳市铭粤知识产权代理有限公司 44304 | 代理人： | 孙伟峰 |
| 地址： | 215123 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光谱测试装置，包括：用于对待测光谱进行分光的单色仪，其至少包括用于出射经分光的待测光谱的出光狭缝；与出光狭缝相对设置的光谱放大器，其对经由出光狭缝出射的经分光的待测光谱进行放大；及邻近于光谱放大器设置的探测器，其用于探测经放大的待测光谱。经该光谱测试装置测试的待测光谱探测信号强度高、分辨率高，且空间占有小，该光谱测试装置未通过增加光栅刻线数及系统有效焦长的方法来提高分辨率，制作简单、成本低。本发明还公开了利用上述光谱测试装置的测试方法，包括步骤：单色仪对待测光谱进行分光并经由出光狭缝出射；光谱放大器放大经出光狭缝出射的经分光的待测光谱；探测器探测经放大的待测光谱。 | ||
| 搜索关键词： | 光谱 测试 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
1.一种光谱测试装置，其特征在于，包括：单色仪，至少包括出光狭缝，所述单色仪对待测光谱进行分光，经分光的待测光谱经由所述出光狭缝出射；光谱放大器，与所述出光狭缝相对设置，所述光谱放大器对经由所述出光狭缝出射的所述经分光的待测光谱进行放大；所述光谱放大器为凸透镜，所述单色仪的出光狭缝位于所述凸透镜的一倍焦距与二倍焦距之间；探测器，邻近于所述光谱放大器设置，所述探测器用于探测经放大的待测光谱；光谱反射器，设置于所述光谱放大器与所述探测器之间，所述光谱反射器用于接收所述经放大的待测光谱，并将所述经放大的待测光谱反射至所述探测器。
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