[发明专利]一种适用于点型缺陷的磁轭式局部微磁化检测装置

摘要

本发明公开了一种适用于点型缺陷的磁轭式局部微磁化检测装置，该装置包括磁敏感元件部分，磁感应部分以及磁轭式局部微磁化部分，磁敏感元件部分包括磁敏感元件、引线端、磁引导芯和引导芯套筒，磁引导芯下端采用圆锥形的结构细化检测区域，实现点型缺陷的高分辨率检测；磁感应部分由绕制在引导芯套筒外侧的磁感应线圈组成；由引导芯套筒支撑固定的磁轭式局部微磁化部分，包括环形导磁构件、磁铁连接件、磁轭式双磁铁以及斜向双导磁构件，该部分将磁场量导入待检测金属体内，达到局部微磁化的效果，通过与磁引导芯连接的磁敏感元件或引导芯套筒外的磁感应线圈，传递金属零件表面点型缺陷漏磁场量信号，实现对高精金属零件表/界面形性的检测。

主权项

一种适用于点型缺陷的磁轭式局部微磁化检测装置，其特征在于，该装置包括磁敏感元件部分(A)、磁感应部分(B)和磁轭式局部微磁化部分(C)，其中：该磁敏感元件部分(A)包括磁敏感元件引线端(A1)、磁敏感元件(A2)、点型磁引导芯(A4)和磁绝缘的磁引导芯套筒(A3)，所述磁敏感元件引线端(A1)与所述磁敏感元件(A2)相连，所述点型磁引导芯(A4)呈下端为圆锥形、上端为圆柱形的结构，所述点型磁引导芯(A4)的圆柱形结构的上端与磁敏感元件(A2)下端的磁敏感部位相连，所述磁引导芯套筒(A3)采用过盈配合的方式紧套在所述磁引导芯(A4)圆柱形结构的外侧；该磁感应部分(B)包括磁感应线圈(B1)和线圈引线端(B2)，所述磁感应线圈(B1)绕制在所述磁引导芯套筒(A3)的外侧，所述线圈引线端(B2)设置在所述磁感应线圈(B1)的两端，以便于所述磁感应线圈(B1)中磁感应信号的输出；该磁轭式局部微磁化部分(C)包括环形导磁构件(C1)、磁铁连接件(C2,C2’)、磁轭式双磁铁(C3,C3’)和斜向双导磁构件(C4,C4’)，其中所述环形导磁构件(C1)套装在所述磁引导芯套筒(A3)的下部，并由所述磁引导芯套筒(A3)的下端面固定支撑，所述环形导磁构件(C1)的两侧通过磁铁连接件(C2,C2’)对称连接有沿竖直方向布置的且磁极相反的磁轭式双磁铁(C3,C3’)，所述磁轭式双磁铁(C3,C3’)的下端部连接有向所述点型磁引导芯(A4)的圆锥形结构倾斜的斜向双导磁构件(C4,C4’)。