[发明专利]光学传感器的测试方法和测试装置有效
| 申请号： | 201510216689.6 | 申请日： | 2015-04-30 |
| 公开（公告）号： | CN105035923B | 公开（公告）日： | 2017-01-11 |
| 发明（设计）人： | 彼得·柯林斯;约翰·寇松 | 申请（专利权）人： | 英盛达（广州）光电科技有限公司 |
| 主分类号： | B66B13/14 | 分类号： | B66B13/14;B66B5/00 |
| 代理公司： | 广州粤高专利商标代理有限公司44102 | 代理人： | 陈卫,郑永泉 |
| 地址： | 510530 广东省广州*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 公开了一种自动门设备的光学门传感器100的测试方法，该光学门传感器具有用于发射光信号104的发射器102和用于检测光信号104的接收器106，光学门传感器100具有基线状态，在该基线状态下，接收器可以检测到来自发射器的光信号，该方法包括：在发射器102和接收器106之间部署光学衰减器152以将光学门传感器处于衰减状态，在该衰减状态下，来自发射器102的光信号104被衰减了一衰减量；并且使用光学衰减器评估处于衰减状态的光学门传感器100的操作。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 传感器 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种自动门设备的光学门传感器的测试方法，该光学门传感器具有用于发射光信号的发射器和用于检测光信号的接收器，光学门传感器具有基线状态，在该基线状态下，接收器能够检测到来自发射器的光信号，该方法包括：在发射器和接收器之间部署光学衰减器以将光学门传感器处于衰减状态，在该衰减状态下，来自发射器的光信号被衰减了一衰减量；和使用处于衰减状态的光学衰减器评估光学门传感器的操作。
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