[发明专利]宽波段消色差复合波片的定标方法在审
| 申请号： | 201510218243.7 | 申请日： | 2015-04-30 |
| 公开（公告）号： | CN106197949A | 公开（公告）日： | 2016-12-07 |
| 发明（设计）人： | 钟凤娇;高海军;党江涛 | 申请（专利权）人： | 睿励科学仪器（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 郑立柱 |
| 地址： | 201203 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于复合波片的定标方法，其包括：A.确定表征复合波片的第一矩阵，第一矩阵包含至少一个未知数；B.基于第一矩阵，确定理论上光强与复合波片的对准角度偏离值之间的关系；C.基于步骤(B)中已确定的理论上光强与复合波片的对准角度偏离值之间的关系以及实际测量得到的光强数据，定标出能够表征复合波片且不含未知数的第二矩阵。通过本发明的技术方案，在对复合波片或测量系统进行定标时，可以大幅减少未知数的数量，从而降低定标的难度，提高定标的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 波段 色差 复合 定标 方法 | ||
【主权项】：
一种用于复合波片的定标方法，其特征在于，包括：A.确定表征所述复合波片的第一矩阵，所述第一矩阵包含至少一个未知数；B.基于所述第一矩阵，确定理论上光强与所述复合波片的对准角度偏离值之间的关系；C.基于步骤(B)中已确定的理论上光强与所述复合波片的对准角度偏离值之间的关系以及实际测量得到的光强数据，定标得到能够表征所述复合波片且不含未知数的第二矩阵。
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