[发明专利]相位移光罩及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201510222082.9 申请日: 2015-05-05
公开(公告)号: CN106200255B 公开(公告)日: 2020-05-26
发明(设计)人: 陈高惇 申请(专利权)人: 华邦电子股份有限公司
主分类号: G03F1/26 分类号: G03F1/26;G03F1/38;H01L21/027
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 马雯雯;臧建明
地址: 中国台湾台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明提供一种相位移光罩及其制造方法,此相位移光罩包括:基板、相位移层以及遮蔽层。相位移层位于所述基板上。相位移层的图案包括主图案以及次解析辅助图案。次解析辅助图案配置于所述主图案的周围。所述相位移层具有透射率,所述透射率大于6%。遮蔽层至少覆盖所述相位移层的所述次解析辅助图案。因此,本发明不仅能保留次解析辅助图案的功能(即增加光刻处理裕度),而且在经过曝光处理与显影处理后,次解析辅助图案不会成像在半导体衬底上。
搜索关键词: 相位 移光罩 及其 制造 方法
【主权项】:
一种相位移光罩,其特征在于,包括:基板;相位移层,位于所述基板上,所述相位移层的图案包括:主图案;以及次解析辅助图案,配置于所述主图案的周围,其中所述相位移层具有透射率,所述透射率大于6%;以及遮蔽层,至少覆盖所述相位移层的所述次解析辅助图案。
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