[发明专利]一种氮氧传感器芯片老化测试装置及老化测试方法

摘要

本发明公开了一种氮氧传感器芯片老化测试装置及老化测试方法，该装置包括通讯模块、控制模块、信号分析模块、老化电源、采样电阻和芯片夹具；芯片夹具有弹性接线柱，老化电压经由接线柱加载到氮氧传感器芯片的加热电极上；氮氧传感器芯片的加热电极具有电阻，在老化电压的作用下，氮氧传感器芯片的加热电极发热；通过控制模块实时调整老化电源输出的老化电压，实现对氮氧传感器芯片加热电极循环加载老化电压的目的；同时通过采样电阻采集电压以获取芯片电极上的加热电流数据，以判定待测氮氧传感器芯片的加热电极是否被烧断，从而实现老化测试，达到淘汰不良品的目的；本发明提供的这种芯片老化测试装置具有操作简单、便于数据收集、监测及追溯的特点。

主权项

一种氮氧传感器芯片老化测试装置，其特征在于，包括通讯模块、控制模块、信号分析模块、老化电源和采样电阻；所述通讯模块用于实现所述控制模块与外部工控机之间的数据通讯，其数据端作为与所述工控机进行数据交互的数据收发端口；控制模块的第一输入端连接通讯模块的第一输出端，控制模块的第二输入端连接信号分析模块的输出端；控制模块的第一输出端连接通讯模块的控制端；信号分析模块的输入端连接采样电阻，用于根据采样电阻两端的电压获取待测氮氧传感器芯片加热电极上流过的加热电流，并反馈给控制模块，由控制模块辨识相应的加热电极是否断裂；老化电源的控制端连接控制模块的第二输出端，用于根据控制模块提供的控制信号调整输出的老化电压；采样电阻的一端连接老化电源的输出正端，另一端连接待测氮氧传感器芯片的加热正极；待测氮氧传感器芯片的加热负极连接老化电源的输出负端；通过将老化电压加载在芯片加热电极上，实现对待测氮氧传感器芯片的电极加热老化，以淘汰经老化测试筛选出的不良品。