[发明专利]利用量子点荧光检测凋亡过程中线粒体膜透化改变的方法在审
申请号: | 201510226045.5 | 申请日: | 2015-05-06 |
公开(公告)号: | CN104792761A | 公开(公告)日: | 2015-07-22 |
发明(设计)人: | 胡华军 | 申请(专利权)人: | 中国计量学院 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64 |
代理公司: | 杭州浙科专利事务所(普通合伙) 33213 | 代理人: | 吴秉中 |
地址: | 310018 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种利用量子点荧光检测凋亡过程中线粒体膜透化改变的方法。本发明所述的量子点为巯基乙酸或巯基丁二酸等羧基修饰的低毒水溶性量子点,包括CdS、CdSe、CdTe、CdTe/ZnSe、CdTe/ZnS、CdSe/ZnTe,配制量子点检测试剂所用的储存缓冲液含225mmol/L甘露醇、70mmol/L蔗糖,且pH在7.5~8.5范围的D-Hank’s缓冲液、HEPES缓冲液、柠檬酸钠缓冲液、PBS缓冲液。检测过程基本步骤包括:(1)制备线粒体悬液;(2)加入量子点检测试剂,冰浴10分钟;(3)荧光读数。本发明能灵敏、稳定检测出凋亡过程中线粒体膜透化的改变。 | ||
搜索关键词: | 利用 量子 荧光 检测 过程 线粒体 膜透化 改变 方法 | ||
【主权项】:
一种利用量子点荧光检测凋亡过程中线粒体膜透化改变的方法,其特征在于:采用最佳缓冲液配方配制水溶性量子点检测试剂,按步骤检测凋亡过程中线粒体膜透化的改变。
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