[发明专利]有效线宽扫频测量系统及测量方法在审
| 申请号： | 201510226768.5 | 申请日： | 2015-05-06 |
| 公开（公告）号： | CN104808159A | 公开（公告）日： | 2015-07-29 |
| 发明（设计）人： | 赵勇 | 申请（专利权）人： | 西南应用磁学研究所 |
| 主分类号： | G01R33/12 | 分类号： | G01R33/12;G01R27/26 |
| 代理公司： | 深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙) 44248 | 代理人： | 胡吉科 |
| 地址： | 621000 四川省*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明涉及测量技术领域，其公开了一种有效线宽扫频测量系统，包括样品（1）及支撑结构、可调谐振腔（2）、偏置磁场（3）、网络特性分析仪（4）和特斯拉计（5）；所述可调谐振腔（2）通过活塞改变腔体大小实现谐振频率可调；所述可调谐振腔（2）和偏置磁场（3）配合测试任一工作频率和任一静态偏置磁场的有效线宽。本发明的有益效果是：测试状态与实际使用状态一致，测试结果精度高，具有很强的实用价值。 | ||
| 搜索关键词： | 有效 线宽扫频 测量 系统 测量方法 | ||
【主权项】：
一种有效线宽扫频测量系统，其特征在于: 包括样品（1）及支撑结构、可调谐振腔（2）、偏置磁场（3）、网络分析仪（4）和特斯拉计（5）；所述网络分析仪（4）的微波源提供一定频率范围内扫描微波信号，经可调谐振腔（2）传输后回到网络分析仪（4）以获得微波腔谐振曲线；样品（1）与可调谐振腔（2）的微波磁场和偏置磁场（3）相互作用，其磁导率反映在微波腔谐振频率和品质因数值）上；特斯拉计（5）用于测量偏置磁场（3）的大小；可调谐振腔（2）通过电动或手动方式调节谐振频率；所述可调谐振腔（2）通过活塞改变腔体大小实现谐振频率可调；所述可调谐振腔（2）和偏置磁场（3）配合测试任一工作频率和任一静态偏置磁场的有效线宽。
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