[发明专利]基于PhaseLift自聚焦算法的稀疏微波成像方法有效
| 申请号： | 201510227896.1 | 申请日： | 2015-05-06 |
| 公开（公告）号： | CN104808205B | 公开（公告）日： | 2017-09-29 |
| 发明（设计）人： | 张柘;全相印;张冰尘;洪文;吴一戎 | 申请（专利权）人： | 中国科学院电子学研究所 |
| 主分类号： | G01S13/90 | 分类号： | G01S13/90 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人： | 曹玲柱 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种基于PhaseLift自聚焦算法的稀疏微波成像方法。该稀疏微波成像方法包括构建回波信号存在相位误差时的稀疏微波成像相位误差模型；重建观测场景的优化目标；以及利用PhaseLift算法求解优化目标，完成相位误差的自聚焦补偿，重建观测场景的后向散射系数，实现稀疏微波成像。由于PhaseLift算法比其他相位恢复算法所需回波信号强度测量值的数目更少，对回波数据结构要求更低，因此在稀疏微波成像体制下，本发明所述方法的应用范围更广，适应性更强。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 phaselift 自聚焦 算法 稀疏 微波 成像 方法 | ||
【主权项】：
一种基于PhaseLift自聚焦算法的稀疏微波成像方法，其特征在于，包括：步骤A：构建回波信号存在相位误差时的稀疏微波成像相位误差模型；步骤B：重建观测场景的优化目标；以及步骤C：利用PhaseLift算法求解优化目标，完成相位误差的自聚焦补偿，重建观测场景的后向散射系数，实现稀疏微波成像；其中，所述步骤B中，重建观测场景的优化目标为：minXTr(X),s.t.A(X)=b]]>其中，Tr(X)表示矩阵X的迹，X是一个半正定矩阵，且xH表示x的共轭转置；b＝|Θy|2＝|y|2，A表示一个线性变换映射算子：其中，HM×M表示M阶Hermitian矩阵，表示稀疏微波成像系统观测矩阵Φ的第i行，表示的共轭转置。
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