[发明专利]微波元件测试装置在审
| 申请号： | 201510229079.X | 申请日： | 2015-05-07 |
| 公开（公告）号： | CN106052504A | 公开（公告）日： | 2016-10-26 |
| 发明（设计）人： | 余秀文;古世良 | 申请（专利权）人： | 台扬科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/00 | 分类号： | G01B5/00 |
| 代理公司： | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人： | 李昕巍;赵根喜 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种微波元件测试装置，包含一底板；一第一夹持件，经由至少一第一万向轴承设置于该底板上；以及一第二夹持件，与该第一夹持件以并列夹持的排列方式固定于该底板之上。在本发明一实施例中，该第一夹持件经由该第一万向轴承设置于该底板上，因此该第一夹持件在一平面的位置可以微调，以适应待测微波元件在铸造时产生的水平尺寸误差，使得该导波管的测试接头紧密接合待测微波元件，避免电磁波外漏而影响测试结果。 | ||
| 搜索关键词： | 微波 元件 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种微波元件测试装置，包含：一底板；一第一夹持件，经由至少一第一万向轴承设置于该底板上；以及一第二夹持件，与该第一夹持件以并列夹持的排列方式固定于该底板之上。
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