[发明专利]基于宏弯损耗效应的光纤位移传感器有效
| 申请号： | 201510229468.2 | 申请日： | 2015-05-07 |
| 公开（公告）号： | CN105043264B | 公开（公告）日： | 2017-05-10 |
| 发明（设计）人： | 刘文怡;侯钰龙;张会新;苏珊;刘佳;张彦军;沈三民;王红亮;苏淑婧;谭秋林;崔永俊;甄成方;雷海卫;赵利辉;熊继军;刘俊 | 申请（专利权）人： | 中北大学 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02;G01B11/16 |
| 代理公司： | 太原科卫专利事务所(普通合伙)14100 | 代理人： | 朱源,武建云 |
| 地址： | 030051 山*** | 国省代码： | 山西;14 |
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| 摘要： | 本发明的目的在于提供一种基于宏弯损耗效应的位移检测传感器。通过宏弯引起光纤内模场畸变，引起宏弯损耗。由两根塑料裸光纤形成双绞宏弯辐射耦合结构，利用宏弯损耗效应实现两根光纤之间的耦合，称为宏弯辐射耦合。通过宏弯半径改变宏弯损耗的光能量，引起接收光纤内光功率变化，从而实现对物体位移的检测。首次将宏弯辐射耦合结构应用于位移检测，同时实现了低成本，低功耗，高性能的位移传感器。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 损耗 效应 光纤 位移 传感器 | ||
【主权项】：
一种基于宏弯损耗效应的光纤位移传感器，其特征在于：包括两根光纤，其中一根为传光光纤(1)，另一根为接收光纤(2)，所述传光光纤(1)始端连接LED光源、终端连接光功率计P1，所述接收光纤(2)始端用黑色盖帽密封固定、终端连接光功率计P2；所述传光光纤(1)和接收光纤(2)通过双绞后形成宏弯辐射耦合结构(100)；所述双绞宏弯辐射耦合结构(100)的始端固定，为固定端(101)；终端移动，为移动端(102)；所述宏弯辐射耦合结构(100)的圆周部分的弯曲半径等于阈值，所述阈值为当入射光(10)在传光光纤(1)的纤芯(3)‑包层(4)界面上的入射角θ等于全内反射角θc时所对应的弯曲半径，即设纤芯(3)的折射率为nco，包层(4)的折射率为ncl，那么θc＝sin‑1(ncl/nco)。
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