[发明专利]通用型测试平台及其测试方法在审
| 申请号： | 201510230525.9 | 申请日： | 2015-05-08 |
| 公开（公告）号： | CN106199374A | 公开（公告）日： | 2016-12-07 |
| 发明（设计）人： | 吴建颖;杨松霖 | 申请（专利权）人： | 力成科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 马雯雯;臧建明 |
| 地址： | 中国台湾新竹县*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种通用型测试平台及其测试方法，包括主机、控制板、现场可编辑逻辑门阵列板、多个第二连接埠、多个插座板以及插接至这些插座板的多个NAND快闪存储器。控制板电性连接至主机，且具有多个第一连接埠。这些第二连接埠成对设置于现场可编辑逻辑门阵列板的相对两侧，其中位于现场可编辑逻辑门阵列板的其中一侧的各个第二连接埠电性连接至对应的第一连接埠，且各个插座板的两第三连接埠电性连接至位于现场可编辑逻辑门阵列板的另一侧的任两相邻的第二连接埠。另提出一种前述通用型测试平台的测试方法。本发明提供的通用型测试平台及其测试方法，可用于测试不同型号的控制器，有助于提高控制器的测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 通用型 测试 平台 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种通用型测试平台，其特征在于，包括：主机；控制板，电性连接至所述主机，所述控制板具有控制器以及至少一多倍数据速率同步动态随机存取存储器以及多个第一连接埠；现场可编辑逻辑门阵列板，具有处理单元；多个第二连接埠，成对设置于所述现场可编辑逻辑门阵列板的相对两侧，且位于所述现场可编辑逻辑门阵列板的其中一侧的各所述第二连接埠电性连接至对应的所述第一连接埠；以及多个插座板，具有两第三连接埠，各所述插座板通过对应的所述两第三连接埠电性连接至位于所述现场可编辑逻辑门阵列板的另一侧的任两相邻的该些第二连接埠；以及多个NAND快闪存储器，分别插接至该些插座板。
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