[发明专利]IGBT芯片的控制方法有效
申请号: | 201510231512.3 | 申请日: | 2015-05-08 |
公开(公告)号: | CN104966714B | 公开(公告)日: | 2019-06-18 |
发明(设计)人: | 邓华鲜 | 申请(专利权)人: | 邓华鲜 |
主分类号: | H01L27/07 | 分类号: | H01L27/07;H01L29/739 |
代理公司: | 成都天嘉专利事务所(普通合伙) 51211 | 代理人: | 毛光军 |
地址: | 614000 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开了一种IGBT芯片的控制方法,包括:当IGBT处于正向导通时,控制开关Q处于关闭状态,PN结J2处于反向偏置状态,J1处于正偏状态,由于隔离罩的作用,电场对电极N2+无影响;当IGBT处于反向导通时,控制开关Q处于开启状态,PN结J1处于反偏状态,PN结J2处于正偏状态,电子流出受P+势垒的影响受阻后,向电极N2+运动,通过控制开关Q运动流出。本发明在不影响性能参数的同时基本解决了拖尾(snapback),并有效的将二极管集成在IGBT内部,真正实现了IGBT既有低的导通压降又有良好的开关速度,大大提高了器件的可靠性。 | ||
搜索关键词: | igbt 芯片 控制 方法 | ||
【主权项】:
1.一种IGBT芯片的控制方法,其特征在于:当IGBT处于正向导通时,控制开关Q处于关闭状态,P型沟道(103)与漂移区(101)所形成的PN结J2处于反向偏置状态,P型集电极(104)与漂移区(101)所形成的PN结J1处于正偏状态,由于隔离罩的作用,电场对电极N2+无影响;当IGBT处于反向导通时,控制开关Q处于开启状态,P型集电极(104)与漂移区(101)所形成的PN结J1处于反偏状态,P型沟道(103)与漂移区(101)所形成的PN结J2处于正偏状态,电子流出受漂移区(101)与P型集电极(104)间的P+势垒的影响受阻后,向电极N2+运动,通过控制开关Q运动流出;IGBT芯片的IGBT单元设置隔离罩内,隔离罩设置在电极N2+内,控制开关Q分别与电极N2+和三极管连接;所述控制开关Q与P型沟道(103)、漂移区(101)和P型集电极(104)形成的PNP三极管的P型集电极(104)连接。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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