[发明专利]IGBT芯片的控制方法有效

专利信息
申请号: 201510231512.3 申请日: 2015-05-08
公开(公告)号: CN104966714B 公开(公告)日: 2019-06-18
发明(设计)人: 邓华鲜 申请(专利权)人: 邓华鲜
主分类号: H01L27/07 分类号: H01L27/07;H01L29/739
代理公司: 成都天嘉专利事务所(普通合伙) 51211 代理人: 毛光军
地址: 614000 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种IGBT芯片的控制方法,包括:当IGBT处于正向导通时,控制开关Q处于关闭状态,PN结J2处于反向偏置状态,J1处于正偏状态,由于隔离罩的作用,电场对电极N2+无影响;当IGBT处于反向导通时,控制开关Q处于开启状态,PN结J1处于反偏状态,PN结J2处于正偏状态,电子流出受P+势垒的影响受阻后,向电极N2+运动,通过控制开关Q运动流出。本发明在不影响性能参数的同时基本解决了拖尾(snapback),并有效的将二极管集成在IGBT内部,真正实现了IGBT既有低的导通压降又有良好的开关速度,大大提高了器件的可靠性。
搜索关键词: igbt 芯片 控制 方法
【主权项】:
1.一种IGBT芯片的控制方法,其特征在于:当IGBT处于正向导通时,控制开关Q处于关闭状态,P型沟道(103)与漂移区(101)所形成的PN结J2处于反向偏置状态,P型集电极(104)与漂移区(101)所形成的PN结J1处于正偏状态,由于隔离罩的作用,电场对电极N2+无影响;当IGBT处于反向导通时,控制开关Q处于开启状态,P型集电极(104)与漂移区(101)所形成的PN结J1处于反偏状态,P型沟道(103)与漂移区(101)所形成的PN结J2处于正偏状态,电子流出受漂移区(101)与P型集电极(104)间的P+势垒的影响受阻后,向电极N2+运动,通过控制开关Q运动流出;IGBT芯片的IGBT单元设置隔离罩内,隔离罩设置在电极N2+内,控制开关Q分别与电极N2+和三极管连接;所述控制开关Q与P型沟道(103)、漂移区(101)和P型集电极(104)形成的PNP三极管的P型集电极(104)连接。
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