[发明专利]一种器件的重离子单粒子多位翻转效应的定量分析方法有效
申请号: | 201510233269.9 | 申请日: | 2015-05-08 |
公开(公告)号: | CN105022859B | 公开(公告)日: | 2018-01-19 |
发明(设计)人: | 罗尹虹;张凤祁;郭红霞;陈伟;王忠明;赵雯;丁李利;王园明 | 申请(专利权)人: | 西北核技术研究所 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司61211 | 代理人: | 杨亚婷 |
地址: | 71002*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开了器件的重离子单粒子多位翻转效应的定量分析方法,所述方法包括选择重离子种类,依据相应的原则设定合适的注量率对开盖器件进行辐照,测试系统记录器件发生单粒子翻转的存储单元逻辑地址及数据,达到预计的单粒子翻转数或最大离子注量时停止辐照。建立器件逻辑地址到物理地址的映射关系,依据物理位图,统计单粒子翻转数、单粒子单位翻转和多位翻转事件数。结合离子注量,计算单粒子单位翻转和多位翻转事件概率、多位翻转均值、多位翻转截面等参数。本发明能够为器件抗单粒子翻转加固设计提供技术支撑和信息,并验证评价加固技术的有效性。 | ||
搜索关键词: | 一种 器件 离子 粒子 翻转 效应 定量分析 方法 | ||
【主权项】:
一种器件的重离子单粒子多位翻转效应的定量分析方法,其特征在于,包括以下步骤:1】数据获取1.1】束流参数设定选择重离子种类,根据重离子LET值选择合适的注量率进行辐照;1.2】测试记录器件发生单粒子翻转的存储单元逻辑地址及数据,达到预计的单粒子翻转数或最大离子注量时停止辐照;2】数据处理2.1】建立器件逻辑地址到物理地址的映射关系,形成物理位图;2.2】依据物理位图,统计每个回读周期以及全部回读周期的单粒子翻转数和单粒子事件数,单粒子事件数包括单位翻转事件数和多位翻转事件数,并记录每种多位翻转事件所对应的多位翻转拓扑图形;2.3】基于步骤2.2】的数据统计信息,结合重离子注量,对单粒子多位翻转进行表征,实现对器件单粒子多位翻转效应的定量分析。
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