[发明专利]一种适用于低温电学测试的连接装置及使用方法有效

专利信息
申请号: 201510234623.X 申请日: 2015-05-08
公开(公告)号: CN104820116A 公开(公告)日: 2015-08-05
发明(设计)人: 魏凌;张伟风;尹延锋 申请(专利权)人: 河南大学
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04
代理公司: 郑州联科专利事务所(普通合伙) 41104 代理人: 刘建芳;李伊宁
地址: 475001*** 国省代码: 河南;41
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摘要: 发明公开了一种适用于低温电学测试的连接装置,包括样品架,样品架的上表面设置有样品固定板,样品固定板上开设有通孔,导线的一端穿过通孔后与样品固定板上表面设置的焊点连接,导线的另一端与第一导电连接装置连接,第二导电连接装置与连接测试设备信号接入端的漆包线连接,第一导电连接装置和第二导电连接装置可拆卸连接。本发明能够克服现有待测样品与测试设备连接方式的不足,有效避免虚焊现象所造成的测试数据失真,降低测试人员的工作难度和工作强度,提高工作效率。
搜索关键词: 一种 适用于 低温 电学 测试 连接 装置 使用方法
【主权项】:
一种适用于低温电学测试的连接装置,其特征在于:包括样品架,样品架的上表面设置有样品固定板,样品固定板上开设有通孔,导线的一端穿过通孔后与样品固定板上表面设置的焊点连接,导线的另一端与第一导电连接装置连接,第二导电连接装置与连接测试设备信号接入端的漆包线连接,第一导电连接装置和第二导电连接装置可拆卸连接。
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